Chroma 1871是专门为芯片型电感所设计的自动化测试生产设备，特别针对层间短路测试而设计，满足客户端大量生产需求。1871的测试功能为层间短路测试(IWT)，是把关芯片电感质量的测试系统。此系统也承袭Chroma19301A绕线组件脉冲测试器所有的判断功能，包含波形面积比(Area)、放电二次微分侦测(Laplacian)及新的测试判断功能波峰降比(ΔPeakRatio)、共振波面积比(ΔResonantArea)。为因应现今电子产品，薄型化的电感器被大量使用，相对的也需大量生产，Chroma1871最大生产效率为每分钟1,500个，可满足庞大产能需求。利用一次5组层间短路测试站同时测试来达到快速量产。亦可选择仅搭配2组层间短路测试站给予不需量产的研发或品保等单位使用，以符合最佳的成本效益。

主要特点

■适用尺寸3.2mmx2.5mm~1.6mmx0.8mm

■测试包装速度600ppm~1500ppm

■层间短路判断功能：-面积比(Area)-放电二次微分侦测(Laplacian)-波峰降比(ΔPeakRatio)-共振波面积比(ΔResonantArea)

■具接触检查功能以延长治具使用期限

■可选择搭配5组或2组测试站

■导引盘设计，无掉料疑虑

■类四线式量测设计的测试座

■具有各种不良品独立收集盒

■专用数据收集软件，可实时监控生产质量

■切换式中/英/日文操作接口

■设备快速、稳定、安全

四线式量测专用测试座

芯片型电感的规格非常小，在进行层间短路测试时容易受到配线及治具的影响。一般测试座为二线式设计，进行电感值较小的层间短路测试时，配线的影响更为显著，容易发生实际施加于芯片型电感上的电压低于设定电压。类四线式的特殊设计使输出讯号传送及测量讯号撷取的影响降到最低，所以不易受配线影响，搭配Chroma19301A的电压输出补偿功能后，可确保设定电压与实际施加电压一致。

稳定高寿命专用测试片

一般测试治具与产品的接触端皆使用探针，探针内部的弹簧容易造成测试误差。Chroma1871的治具设计为测试片，直接与测试线连接不会受弹簧影响，测试片与待测物接触面积比探针大，接触良好，使用寿命也优于探针，且容易保养维护。

各测试站独立不良收集盒

Chroma1871同时搭配5台19301A，皆具相同测试目的，为方便使用者进行分析，可将不良品依照不同测试条件各自独立收集、清楚分类，分析各种测试不良品状况后可改善生产质量。