Chroma 19301A应用于低感量绕线组件测试，感量可达0.1uH，针对低感量测试特性提供 四线式测量、接触检查功能、电感检查与电压补偿功能，可避免因待测物感量变化大或配线等效电感而造成测试电压误差大，为低感量绕线组件脉冲测试理想利器。 可应用于自动化生产上应用，拥有超高速测量速度有效缩短测试时间提升生产效率，且电压补偿功能改善了自动化机台配线等效电感之影响。 全新的人机操作接口，整合图形化彩色显示并提供画面撷取功能，透过前面板USB储存波形，不仅适用于生产现场，更可应用于研发、品保单位 使用进行样品分析比对，大幅提升操作便利性。

Rp检查 (Rp Check) 功能

利用波峰比侦测(Peak Ratio)来侦测Rp的大小为Chroma特有的测试技术，可检出Rp异常或劣化. 部分电感待测物在测试前既已因铁芯损失过大或轻微铁芯与漆包线短路导致Q值略低(Rp小)，脉冲测试结束后，将开关开路(SW1 OFF)并观察电压震荡波形中峰值与第二个峰值的衰减速度及比例之差异来检测出异常品。波峰比的值越大表示Rp的值也越大,相对的Q值也会比较高。

低感量脉冲测试技术

Chroma 19301A为针对低感量绕线组件待测物而开发，测试感量可对0.1uH产品进行层间短路测试，低感量待测物有别于一般感量产品测试应用，因待测物的感量较低，所以容易受到测试回路上配线之等效电感影响。测试电压产生分压于配在线，使待测物端电压远低于量测的设定电压。另外，如低感量的Power choke ，其工作电压应用于较低电压，因此其脉冲测试电压通常会低于一般感量产品。

电压补偿功能

一般如变压器等感量较大的线圈进行测试时 ，配线等效感量相对较小， 但在低感量测试时，低感量待测物(如0.2uH)会因配线等效感量大小会影响待 测物上之实际电压，尤其在自动化测试应用时，降低配线影响是一重要设计考虑。过高的配线阻抗会使低感量测试时电压分压在测在线， 导致待测物上的电压低于设定值而无法有效检出不良品。且电感产品感量规格可达正负30%，因此于低感量测试应用时，会因待测物感量变化而造成实际端点上电压差异更加明显，导致波形面积判定失效或测试电压未达要求之电压。Chroma 19301A 具备电感差异电压补偿功能，改善上述问题及降低因感量差异造成于端点上实际电压的差异，进而降低误判的可能性。

一般应用时电感待测物(Lx)两端端电压(Vx)会与配线电感(Li&Lw)于线路上形成串联分压,其计算方式如下 :

产品应用

●高低感量产品测试

Chroma 19301A除了低感量产品测试技术外，也同时涵盖到较高感量产品测试应用，可从0.1uH ~ 100uH 。于测试初始进行样品取样时，透过内部电感量测量功能得知待测物感量大小，自动切换到合适档位进行测试(切换点可设定)，使待测物在适当波形下进行比对测量，对使用者操作来说是相当便利的一项功能。单一台层间短路测试器即结合了高低感量产品测试应用，客户于生产在线进行产品更换时可省略设备更换时间，不仅缩短了产品换线工时同时也降低工厂设备负担，有助于工厂端生产管理也替客户节省设备资本支出之成本。

●崩溃电压分析 (B.D.V - Breakdown Voltage)

Chroma 19301A 具有崩溃电压分析功能，设定起始电压与结束电压及电压爬升率，利用电压爬升过程侦测波形面积比(Area SIZE) 、二阶微分侦测 (Laplacian) 及波峰比侦测(PEAK RATIO)判定是否超过设定值，测试出线圈可承受耐电压强度，藉由这些功能，研究人员可以对产品进行分析与研 究，针对线圈较弱的地方做改善。

●劣化点分析(Deterioration Point Analysis)

在IWT BDV Test模式下，利用波峰比的容许范围来判定待测物是否过度劣化。亦可使用数据来用于分析待测物的劣化电压点/崩溃电压点。

技术参数表