HIOKI/日置IM3570阻抗分析仪基本特征

● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查

● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量

● 基本精度±0.08%的高精度测量

● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量

● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

● 可以用于无线充电评价系统TS2400

阻抗分析仪IM3570测量方式：压电元件的共振特性的测量

LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定，并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。

HIOKI/日置IM3570阻抗分析仪基本规格表

HIOKI/日置IM3570阻抗分析仪测试选件

1、4端子探头L2000      DC~8MHz，1m长

2、4端子开尔文夹9140-10  DC~200kH，50 Ω，1 m长

3、镊形探头L2001

线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）

4、测试治具9261-10 线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm

5、测试治具9262 DC～8 MHz, 直接连接型

6、SMD测试治具9263 直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm

7、DC偏置电压单元 9268-10 直接连接型，40Hz~8MHz，最大外加电压DC±40V

8、DC偏置电流单元 9269-10 直接连接型，40Hz~2MHz，最大外加电流DC 2A(最大外加电压DC±40V)

9、4端子探头 9500-10 线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm

10、SMD测试治具9677 用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm

11、SMD测试治具9699 用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下