光学膜厚控制仪 型号:MN666-GM-X03库号:M12664

发布时间:2023/7/7 14:59:00

真空镀膜,膜厚控制仪

本仪器是相位锁定放大器,用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道,参考信号通道和四阶低Q滤波技术组成,有很强的谐波抑制能力和动态储备,能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。

采用进品高元件制作和DAA是数字频谱析系统测试,确保仪器具有的质量和优越的性能。

高稳定性。操作简便,实用性强

技术参数:


GM-X03

主信号通道:电压单端输入

满程灵敏度:0.5mV~500mV

频率范:1KHz,±5%

锁相噪声:≦4nV

线性误差:≦1%

零点漂移:0.2%(小时)

参考信号通道:电压单端输入

输入幅度:20mV~700mV

频率范:1KHz,±5%

相位锁定范:≧320°

电源电压:220VAC/50Hz

外形尺寸:宽482x高89x深322(mm)/准2U面板

净重:7.5Kg

12664.jpg