45MG超声波测厚仪延迟块探头

发布时间:2013/8/18 12:16:00

45MG超声波测厚仪延迟块探头

延迟块探头

Microscan延迟块探头可在测量极薄材料,温度极高,或要求极高厚度分辨率的应用中,发挥的测量性能。


频率 
(MHz)
晶片 
直径

探头


工件 
编号


支架

工件 
编号
mm in.
0.5 25 1.00 M2008* U8415001 - -
2.25 13 0.50 M207-RB U8410017 - -
5.0 13 0.50 M206-RB U8410016 - -
5.0 6 0.25 M201-RM U8410001 - -
5.0 6 0.25 M201H-RM U8411030 2127 U8770408

10

6

0.25
M202-RM U8410003
-

-
M202-SM U8410004
10 6 0.25 M202H-RM U8507023 2127 U8770408

10


3


0.125
M203-RM U8410006
-

-
M203-SM U8410007

20

3

0.125
M208-RM U8410019
-

-
M208-SM U8410020
20 3 0.125 M208H-RM U8410018 2133 U8770412
20 3 0.125 M2055** U8415013 - -
30 6 0.25 V213-BC-RM** U8411022 - -

*这些探头只能与高穿透软件选项一起使用。 
**这些探头中的延迟块不能替换。

可替换的延迟块

延迟块的作用是在被测样件表面与探头晶片之间充当保护性缓冲器。


晶片 
直径

延迟块 厚度 
测量极限*
mm in. 工件 工件 
编号
钢- 模式2 钢- 模式3 塑料- 模式2
mm in. mm in. mm in.
13 0.50 DLH-2 U8770062 25 1.0 13 0.5 13 0.5
6 0.25 DLH-1 U8770054 25 1.0 13 0.5 13 0.50
3 0.125 DLH-3 U8770069 13 0.5 5 0.2 5 0.2


附加产品

耦合剂

为得到探头与被测样件之间的声学耦合,几乎总会需要液体耦合剂。我们所提供的各种耦合剂几乎可以适用于所有应用。

校准试块

试块是校准超声测厚仪的必要工具,为保持、核查超声测量的性、独立性及可靠性,一定要使用校准试块。试块所使用的公差标准较ASTM E797规范中表述的公差更为严格。我们备有公制单位的试块。

探头线缆

我们提供适用于所有超声测厚仪器的各种探头线缆。

  • 标准型
  • 防水型
  • 耐用型
    • 特氟纶(Teflon)
    • 带PVC外壳
    • 带硅树脂外壳
    • 不锈钢