半导体芯片高低温湿热试验箱（也称为温湿度循环试验箱、恒温恒湿试验箱等）是一种专门用于对半导体芯片和电子元器件进行高温、低温和湿热环境测试的设备。它可以模拟不同的环境条件，以评估芯片和元器件在极端温度和湿度下的性能和可靠性。

试验标准：

GB/T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分：温湿度贮存

主要技术参数：

温度范围： -20℃~100℃（150℃）、-40℃~100℃（150℃）、-70℃~100℃（150℃）

湿度范围： 20% RH~98% RH

控制稳定度： 温度±0.5℃、湿度±2.0%

分布均匀度： 温度±2.0℃、湿度±3.0%

升温速率： 平均3℃/min(由20℃升至150℃约40分钟)非线性空载

降温速率： 平均1℃/min(由20℃降至-40℃约60分钟)非线性空载

温度极限： zui高温度 150℃，zui低温度-70℃

试验箱特点：

采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。

风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。

升温、降温、系统完全独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，降低故障率。

半导体芯片高低温湿热试验箱可以在研发、生产和质量控制等领域中广泛应用，用于评估半导体芯片和电子元器件在不同温湿度条件下的性能、可靠性和耐久性。