“中国集成电路设计业2017年会暨北京集成电路产业创新发展高峰论坛”将于2017年11月16-17日在北京稻香湖景酒店举办。年会以“创新驱动，引领发展”为主题，分开幕式、高峰论坛、专题研讨、产品展示4个部分，将通过融合促进系统整机联动、产业与投资共融、科技成果转化落地、创新创业项目展示、技术交流合作等环节，为参会嘉宾呈现出一届具有中关村特色的行业盛会。还将同步举办“芯动”北京-暨首届中关村IC产业发展论坛以及EDA与IC设计、IP与IC设计、FOUNDRY与工艺技术、封装测试与IC设计、资本与IC设计业等专题技术论坛，为参会代表呈现的技术与解决方案。
罗德与施瓦茨公司（Rohde & Schwarz，R&S）作为的电子和无线移动通信测试设备厂商之一，将在IC年会上展示其的针对IoT 和通用IC设计与测试的产品和解决方案，包括IoT芯片测试技术，射频微波芯片测试技术，收发机芯片测试技术，收发机芯片产线测试方案，先进相位噪声测试技术，先进时域测试技术等方案。同时，针对频域，时域和信号域的测试，R&S公司带来了4款明星产品用于现场的演示和交流：

• CMW500 无线综测仪

• SMW200A 矢量信号发生器

• FSW 信号与频谱分析仪

• RTO2044 数字示波器