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瞬态平面热源法导热系数测试原理
发布时间:2019/7/8 11:40:00瞬态平面热源法导热系数测试仪 型号:DRE-2C
导热系数测试仪采用瞬态平面热源法,主要测量固体、粉末、涂层、薄膜、胶体、各向异性材料等的导热系数。本仪器基于TPS瞬态平面热源技术,用Hot Disk作为探头的导热系数测定仪。
Hot Disk法的优点有:
(1)直接测量热传播,可以节约大量的时间;
(2)不会和静态法一样受到接触热阻的影响;
(3)无须特别的样品制备,只需相对平整的样品表面。
主要技术指标:
1、导热系数测定范围:0.01—100W/mk;
2、测量时间:1-600秒;
3、准确度:优于5%;
4、温度范围:标准测量:室温,
(可根据客户要求选配各种温度段的测试温度,费用另计)
5、样本尺寸:大于15mm高,大于直径45mm相对平整的样品表面,粉体材料直接插入检测;
6、仪器参考标准:ISO 22007-2008.
7、操作方便,测试速快,仅需将测试探头夹在两块试样块中间,通过简单的软件点击操作即能获得被测试样的导热系数。
配置:含测试主机壹台,软件壹套,测试探头壹个,电脑及打印机壹套。