四探针电阻率测试仪表

发布时间:2017/7/10 16:00:00

产品名称: 便携式四探针电阻率测试仪表 薄膜 ITO膜方块电阻测试仪 
产品货号: wi126413
产    地: 国产
发布时间: 2017-07-10 15:28:23
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详 细 说 明

概述

 

手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

 

本测试仪可赠设电池供电,适合手持式变动场合操作!

 

仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。

 

三、基本技术参数

 

1.测量范围、分辨率

 

电   阻:     1.0×10-2~ 2000Ω,   分辨率0.1×10-3~ 0.1×10Ω

 

电 阻 率:     1.0×10-2~ 200 Ω-cm 分辨率0.1×10-2~ 0.1Ω-cm

 

方块电阻:     1.0×10-1~ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1~ 0.1×10Ω/□

 

2.可测半导体材料尺寸

 

直       径: 测试台直接测试方式 Φ15~130mm,其他方式不限.

 

长(或高)度: 测试台直接测试方式 H≤160mm,   其他方式不限.

 

3.量程划分及误差等级

 

 

量程

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

基本误差

±1%FSB±2LSB

±1.5%FSB

±4LSB

 

4)适配器工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或锂电池供电

 

5)外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

 

净   重:≤0.5kg

 

四、详情请登陆苏州晶格电子有限公司网站

 

查看《M-2数字式四探针测试仪技术使用说明书》

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