注意事项
1.测试前确认器件引脚定义，避免接错损坏器件或仪器
2.高压测试时注意安全防护（尤其测试击穿电压）
3.对于MOSFET等静电敏感器件，需采取防静电措施
4.定期校准仪器以保证测试准确性
选型建议
1.研发/实验室：选择高精度、可编程、支持曲线追踪的台式测试仪
2.产线质检：注重测试速度、稳定性、自动化接口（如GPIB、USB、LAN）
3.教学/维修：可选用经济型手持或桌面多功能测试仪（如LCR-T4、Peak Atlas DCA系列）
测试参数
1.二极管：正向压降（Vf）、反向漏电流（Ir）、反向击穿电压（Vbr）
2.BJT：hFE（直流电流放大系数）、Iceo（集电极-发射极漏电流）、Vce(sat)（饱和压降）
3.MOSFET：Vth（阈值电压）、Rds(on)（导通电阻）、Idss（饱和漏极电流）、跨导（gm）
4.SCR/TRIAC：触发电流（Igt）、维持电流（Ih）、断态重复峰值电压（Vdrm）
5.稳压管：稳定电压（Vz）、动态阻抗（Zzt）
常见分立器件测试仪类型
1.手持式简易测试仪
如：晶体管测试笔、LCR-T4（开源多功能测试仪）
优点：便携、便宜、操作简单
缺点：精度低、功能有限，不适合精密测量
2.台式自动测试系统
如：Keysight B1500A、Tektronix Keithley 2600系列、Chroma 3380、华峰HT系列
特点：高精度、可编程、支持IV曲线扫描、自动化测试
3.适用于产线和实验室
专用测试夹具+源表（SMU）组合
使用数字源表（如Keithley 2400/2450）配合定制夹具，灵活搭建测试平台
主要测试对象
二极管（整流、开关、肖特基、齐纳/稳压二极管等）
双极型晶体管（NPN/PNP型BJT）
场效应晶体管（MOSFET、JFET）
晶闸管（SCR、TRIAC）
光电耦合器（光耦）
稳压模块、TVS管、IGBT等