能量色散型XRF镀层分析仪
价格:196000.00
地区:江苏省 苏州市
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能量色散型XRF镀层分析仪是天瑞公司经过多年经验研发的一款专门针对镀层行业的仪器。该仪器支持全自动软件操作,能够进行多点测试,由软件控制测试位置和移动平台。它功能强大,配合专为其设计的软件,在镀层领域表现出色。

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详情介绍

能量色散型XRF镀层分析仪的性能特点

满足各种厚度和不规则表面样品的测试需求。

φ0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。

高精度移动平台能够定位测试点,其重复定位精度小于0.005毫米。

使用高精度激光,可以自动确定测试的高度。

能量色散型XRF镀层分析仪通过激光定位来确定测试点,以确保测试位置与光斑对齐。

鼠标可以用来控制移动平台,鼠标点击的位置即为待测点。

高分辨率探头能够提升分析结果的准确性。

优良的辐射屏蔽效果

测试口高度敏感传感器的保护措施

能量色散型XRF涂层分析仪的技术参数

型号:厚型800A

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元素分析的范围包括从硫(S)到铀(U)。

一次可以同时分析多达24种元素,具有五层镀层。

分析的检出限达到2ppm,薄膜的测试厚度可达到0.005μm。

分析含量通常在2ppm到99.9%之间。

镀层的厚度通常不超过50微米(具体视材料而定)。

可以选择的多个分析与识别模型。

相互独立的基体效应修正模型

多变量非线性回归程序

多次测量的重复性可达到0.1%。

长期工作的稳定性可达到0.1%。

适宜的温度范围为15℃至30℃。

电源要求:交流220V±5V,建议使用交流净化稳压电源。

仪器尺寸为:宽576毫米 x 深495毫米 x 高545毫米。

体重:90公斤

标准配置

开放式样品室。

能量色散型XRF镀层分析仪配备了精密的二维移动样品平台,同时具备可上下移动的探测器和X光管,实现三维位移。

双激光定位系统。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin 探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机和喷墨打印机

应用领域

对黄金、铂金、白银等贵金属及各种珠宝首饰进行成分检测。

金属镀层厚度的测量以及电镀液和镀层成分的分析。

能量色散型XRF镀层分析仪主要应用于贵金属加工与珠宝制作行业,银行、珠宝销售及检测机构,以及电镀行业。


测试平台:

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

探测器:

Si-Pin探测器

工作原理:

利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器

准直器大小:

φ0.1mm的小孔准直器

温度要求:

15℃至30℃。

电源:

交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源

外观尺寸:

576(W)×495(D)×545(H) mm