陶瓷金属化镀层膜厚仪介绍，Thick800Ax射线镀层测厚仪是天瑞公司结合多年经验专门研发的一款仪器，专为镀层行业设计。该仪器具备全自动软件操作功能，支持多点测试，由软件控制测试点和移动平台。它是一款功能强大的设备，配合专门开发的软件，在镀层行业中能够发挥出色的性能。

详情介绍

陶瓷金属化镀层膜厚仪的性能特点

满足各种不同厚度和不规则表面样品的测试需求。

φ0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。

高精度移动平台能够定位测试点，其重复定位精度小于0.005毫米。

使用高精度激光，可以自动确定测试的高度。

陶瓷金属化镀层膜厚仪通过激光定位来确定光斑位置，以确保测试点与光斑保持对齐。

鼠标能够操控移动平台，鼠标点击的位置即为测量点。

高分辨率探头使得分析结果更加准确。

出色的辐射防护效果

测试口的高度敏感传感器保护。

X射线镀层测厚仪有哪些品牌和技术参数？

型号：厚型800A

陶瓷金属化镀层膜厚仪的元素分析范围涵盖从硫(S)到铀(U)。

可以同时分析多达24个元素，具有五层镀层。

分析的检出限可达到2ppm，薄样品可测试至0.005μm。

分析的含量通常在2ppm到99.9%之间。

镀层的厚度通常在50微米以内（具体数值因材料而异）。

可以选择的分析和识别模型的任意多个。

相互独立的基底效应修正模型

多变量非线性回收算法

多次测量的重复性可达到0.1%。

长期工作稳定性的达成率为0.1%。

适用温度范围为15℃至30℃。

电源要求：交流220V±5V，建议使用交流净化稳压电源。

仪器尺寸为：576毫米（宽） x 495毫米（深） x 545毫米（高）。

体重：90千克

标准配置

陶瓷金属化镀层膜厚测量仪的开放式样品腔。

精密的二维移动样品平台，配备可上下移动的探测器和X光管，实现三维位移。

双激光定位系统。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器是一种探测器类型。

信号检测电子电路。

高低压电源装置。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机与喷墨打印机

应用领域

对黄金、铂金、银等贵金属及各类首饰的成分检测。

测量金属镀层的厚度，以及检测电镀液和镀层的成分含量。

陶瓷金属化镀层膜厚仪主要应用于贵金属和首饰的加工行业，以及银行、首饰销售和检测机构，此外还可服务于电镀行业。