天瑞公司研发的X荧光光谱测厚仪结合了多年经验，专门设计用于镀层行业。这款仪器具备全自动软件操作，支持多点测试，并由软件控制测试点及移动平台。作为一款功能强大的仪器，配合专为其开发的软件，在镀层行业中表现优异。

详情介绍

性能特点

X荧光光谱测厚仪能够满足不同厚度及不规则表面样品的测试需求。

φ0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。

高精度移动平台能够定位测试点，重复定位的精度小于0.005毫米。

X荧光光谱测厚仪使用高精度激光定位，能够自动确定测试高度。

使用定位激光来确定光斑位置，以确保测试点与光斑对齐。

鼠标可以控制移动平台，点击鼠标的位置即为测量点。

高分辨率探头能够提高分析结果的准确性。

优良的射线防护效果

测试口的高度敏感性传感器保护措施

天瑞厂家THICK800A测厚仪的技术参数。

型号：厚型800A

元素分析的范围涵盖从硫（S）到铀（U）。

可同时分析超过30种元素，并具备五层镀层的能力。

分析含量通常在ppm到99.9%之间。

X荧光光谱测厚仪测量的镀层厚度通常在50微米以内（不同材料的厚度可能会有所不同）。

可以选择的多种分析和识别模型。

相互独立的基底效应修正模型。

多变量非线性回收方法

适用温度范围为15℃到30℃。

电源要求：交流电220V±5V，建议使用交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576毫米（宽）× 495毫米（深）× 545毫米（高）

样品室的尺寸为500毫米（宽）×350毫米（深）×140毫米（高）。

体重：90公斤

X荧光光谱测厚仪的标准配置

开放式样品室。

精密的二维移动样品平台，配备可上下移动的探测器和X光管，从而实现三维移动功能。

双激光定位设备。

铅玻璃防护罩。

Si-Pin探测器是一种探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源设备。

X光管。

高度传感器

保护传感器

电脑和喷墨打印机

应用领域

对黄金、铂金、银等贵金属及各种首饰的成分进行检测。

金属涂层的厚度测量以及电镀液及涂层成分的分析。

X荧光光谱测厚仪主要应用于贵金属加工和珠宝制作行业，以及银行、珠宝销售和检测机构，此外还适用于电镀行业。