X射线镀银测厚仪具有更好的性能和便宜的价格，天瑞仪器是国产XRF的制造厂家。在金属镀层检测行业，市场占有率50%。天瑞仪器的X射线荧光镀层测厚仪型号THick800A是镀层检测的标准型号。

的详细信息

X射线镀银测厚仪产品介绍

X射线镀银测厚仪主要用于电镀层厚度检测，高精度，快速简便。Thick800A是我公司研制的即使在客户遇到最严格的测试要求时也能够实现测厚精度。仪器操作快速、方便，高效，配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果更加精准。

快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。

方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。

无损：测试前后，样品无任何形式的变化。

直观：实时谱图，可直观显示元素含量。

测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。

可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。

满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种先进的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。

简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。

X射线镀银测厚仪技术指标：

元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层

一次可同时分析多达五层镀层

最薄可测试0.005μm

X射线镀银测厚仪分析含量一般为2ppm到99.9%

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

长期工作稳定性高

X射线镀银测厚仪工作环境：

度适应范围为15℃至30℃

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

重量：90 kg