铜锡合金镀层测厚仪
价格:196000.00
地区:江苏省 苏州市
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铜锡合金镀层测厚仪THICK800A具有自动对焦系统:通用数字激光传感器、CMOS激光传感器实现样品高度的自动对焦。

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的详细信息

铜锡合金镀层测厚仪能够满足:黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测;金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

主要技术指标:

1、仪器尺寸:

外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm ,

特殊测试时,可开盖,对样品长度无限制

检测开槽口时,厚度10mm以上,宽度和深度没有限制。

样品台尺寸:230(W)×210(D)mm

移动范围:50(X)mm, 50(Y)mm

铜锡合金镀层测厚仪Z轴升降平台升降范围:0-140mm

SDD半导体探测器:

探测器输入电压:±12V,+5V

探头窗口面积:25mm2

探头窗口厚度:0.5mil

分辨率:140±5eV

探头内制冷温度:<-40℃

X射线光管:

管压:5-50kV

管流:0-1mA

靶材:W靶

铜锡合金镀层测厚仪窗口:铍窗

制冷方式:风冷

工作温度:≤75℃

高压发生器:

输入电压:24V

MCA多道分析器:

输入电压:±12V,+5V

采样频率:100 KHZ

脉冲幅度:0-7.6V

A/D位数:12位

分析道数:2048道

准直器系统:

准直器:?0.1 mm(可根据要求选配)

滤光片:Mo(可根据要求选配)

高清晰摄像头:传感器类型:CCD(彩色)

接口:USB2.0

快门类型:面阵

光学尺寸:1/4英寸

有效像素:659(H)×494(V)

有效像素尺寸:3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸:5.6μm(H)×5.6μmm(V):

感应度:0.58V

颜色排列:RGB

帧率:30fps

快门速度:1/1538-1/30(秒)


测试平台:

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

探测器:

SDD探测器

工作原理:

利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器

准直器大小:

φ0.1mm的小孔准直器

温度要求:

15℃至30℃。

电源:

交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源

外观尺寸:

576(W)×495(D)×545(H) mm