X射线分辨率测试卡

JIMA RT RC-04

采用半导体技术，实现了从10 μm到0.1 μm纳米级的23种线和空间。具有纳米焦点和微焦点分辨率的x射线成像系统需要MicroChart来维护和检查其能力和日常校准。

JIMA RT CT-04分辨率测试卡

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸（W x D x T）：40 x 30 x 5mm

芯片尺寸（W x D x T）：5 x 5 x 0.015mm

图案布局：T型

线/空间尺寸：32种规格图案

0.1μm, 0.15μm, 0.2μm, 0.25μm, 0.3μm, 0.35μm, 0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm,

0.9μm, 1.0μm, 1.5μm, 2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm