棒材镀镍膜厚仪
价格:196000.00
地区:江苏省 苏州市
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棒材镀镍膜厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10-40秒内完成。 随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用棒材镀镍膜厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。棒材镀镍膜厚仪是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从S到U。 可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。 满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
棒材镀镍膜厚仪镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。 镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

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探测器:

SDD

电压:

220V

辅助设备:

电脑

工作最佳环境温度:

15-30℃

元素范围:

S-U

准直器:

0.1*0.3mm