DAGE X-ray

DAGE Quadra 3 X光检查机

主要检测：电子元器件、PCBA 电路板内部焊接，短路，气孔，气泡，裂纹，及异物检查。

Quadra 3 可用于高放大倍率下的高质量X射线检测，实现各类生产应用的质量控制。可检测各种制造缺陷 ， 包括BGA、QFN和IGBT焊接，PTH填充，界面空洞，元器件开裂和伪造产品。

清晰而易于识别的图像可快速显示缺陷。Nordson DAGE的 Aspire FP 探测器由自主设计和制造，专用于电子样品检测。

借助Quadra独特的双倾斜轴几何结构，可以快捷方便地找到缺陷。可从各个角度下高放大倍率查看每个细节，而无需旋转样品。

QuadraNT X射线源采用免换灯丝的技术，因此无需定期进行预防性维护工作，从而减少了停机时间和运行成本。

Quadra 3 规格参数

QuadraNT  X 射线管

类型：密封式透射管

特征分辨率：0.95微米

蕞大功率：10瓦

电压：30-160千伏

Aspire FP 探测器

分辨率：140万像素

帧率：10 帧/秒

像素点间距：75 微米

数字图像处理：16比特

检测

倾斜视角图：2 × 70 - 无需旋转样品

减振系统：被动

显示分辨率：94像素/英寸

检测区：510 x 445 毫米 (20 x 17.5 英寸)

几何放大倍率：2000 倍

总放大倍率：7500 倍

样本重量(标准盘)：5千克(11磅)

显示器：单，24寸，宽屏扩展图形阵列，分辨率为 1920 x 1200

系统

尺寸： 1570(宽) x 1500(深) x 1900(高)毫米

系统重量：1950千克 (4300磅)

电源：单相200-230伏(交流)，50/60赫兹，16安