芯片镀层测厚仪
价格:196000.00
地区:江苏省 苏州市
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芯片镀层测厚仪标准配置
芯片镀层测厚仪开放式样品腔。

5.png精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。 
SDD探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
型号:Thick 800A芯片镀层测厚仪元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量般为ppm到99.9% 。
镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
芯片镀层测厚仪相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kgu=3584785903,3199970205&fm=199&app=68&f=JPEG.jpg部分产品
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产品介绍
天瑞
仪器是业生产芯片镀层测厚仪厂家,分析仪器上市企业,thick800A金属电镀光谱测厚仪是款自动化程度较高的仪器,电脑操作,大方便了客户使用。配上门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
芯片镀层测厚仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
应用领域
金属电镀光谱测厚仪广泛应用在黄金,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定,主要用于贵金属加工和饰加工行业;银行,饰销售和检测机构;电镀行业。

5BJF0JZR0uq2AdupT8eTyhAHpyI.jpg厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是业生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售体型企业。 2011年1月25日,天瑞仪器在深圳创业板块上市。股票代码为300165。
公司的X荧光检测技术具有快速、、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的域,如:电子电器、珠宝饰(贵金属及镀层检测)、玩具安(EN71-3)、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油(微量元素S、Pb等)、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。

江苏天瑞仪器股份有限公司产品包括ROHS分析仪,XRF玩具涂料检测仪,X荧光光谱仪,X-RAY,EDX1800B仪器,ROHS环保分析仪,ROHS仪器,X射线荧光测厚仪,X射线镀层测厚仪,X-RAY膜厚测试仪,镀金镀银测厚仪,手持式光谱仪,ROHS测试仪,手持式金属分析仪,ROHS检测设备,手持不锈钢测试仪,ROHS检测仪,手持式合金元素分析仪,手持式不锈钢材质检测仪,X射线荧光光谱仪,ROHS测试仪,便携式X射线荧光光谱仪,手持式合金分析仪,产气相色谱质谱仪,x-ray光谱仪,X荧光测厚仪,便携式镀银层测厚仪,便携式金属材质分析仪,金属电镀光谱测厚仪。


测试平台:

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

探测器:

SDD探测器

工作原理:

利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器

准直器大小:

φ0.1mm的小孔准直器

温度要求:

15℃至30℃。

电源:

交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源

外观尺寸:

576(W)×495(D)×545(H) mm