X光膜厚测试仪
价格:196000.00
地区:江苏省 苏州市
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 新科技助力生产,X光膜厚测试仪解决方案大揭秘

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X光膜厚测试仪是一种先进的检测设备,广泛应用于各种行业,特别是在制药、电子、食品等领域。其高精度、高效率的测试功能,为生产制造提供了重要的技术支持。本文将深入探讨X光膜厚测试仪的工作原理、技术特点以及应用范围,带您一窥这一现代化设备的神秘面纱。


 工作原理

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利用X射线穿透被测材料,通过测量X射线的衰减情况来确定材料的厚度。设备通过X射线源发射出高能X射线,待测材料吸收部分射线,剩余的射线被探测器接收并转化为电信号。根据接收到的信号强度,系统可以计算出材料的厚度数据。


 技术特点


高精度测量:X光膜厚测试仪采用先进的X射线技术,能够实现微米级别的厚度测量精度,满足各种高精度要求。

自动化操作:设备配备智能化控制系统,操作简便,具有高度自动化程度,大大提升生产效率。QQ截图20220303113031.png

 全面适用性:适用于各类材料的厚度测量,包括金属、塑料、橡胶等,满足多样化生产需求。

数据记录与分析:设备可以实时记录并存储测试数据,支持数据分析和导出,帮助用户进行质量控制和改进。


 应用范围


X光膜厚测试仪在诸多行业中得到广泛应用,主要包括但不限于以下领域:

制药业:用于药片、胶囊等药品包装膜的厚度测试,确保药品包装质量符合标准。

电子制造:用于半导体、电路板等电子产品的薄膜测量,保障产品性能和稳定性。

食品包装:用于食品包装膜的厚度检测,确保包装质量和保鲜效果。

塑料工业:用于塑料薄膜、管材等制品的厚度测量,保证产品质量和规格。

综上所述,X光膜厚测试仪以其高精度、高效率和全面适用性,成为现代生产制造中不可或缺的重要工具,为各行业的质量控制与技术提升提供有力支持。

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企业类型

制造商

新旧程度

全新

原产地

江苏省苏州昆山市中华园西路1888号

测试平台:

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

探测器:

Si-Pin探测器

工作原理:

利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器

准直器大小:

φ0.1mm的小孔准直器

温度要求:

15℃至30℃。

电源:

交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源

外观尺寸:

576(W)×495(D)×545(H) mm