便携式镀银层测厚仪产品特点

微型光管、Fast-SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智

能分析模块四大核心技术的引入，使其具有台式相近的测试精

度。

采用超高主频及大内存，超大存储空间，可海量存储数据。

新自主研发的数字多道技术，保证每有效采谱计数大可达

500kcps

准直滤波系统，其组合达到限12组，满足客户的不同条件下

的检测需求。

内置500万像素高清晰摄像头，随时观察样品测试位置，使测

量更加精准。

智能三色预警系统：LED三色长灯带设计，360度无死角显

示。通电开机时绿灯亮，测试红灯闪烁，设备故障黄色灯闪

烁，仪器状态，目了然。

内置记忆电池，换电池不断电。

选配超大27000mAh锂电池，续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器，保证电力供应。

EXPLORER5000T手持式镀层测厚分析仪配有门针对镀层厚度分析用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间

短、操作简易等特点。

便携式镀银层测厚仪新的智能软件，键智能操作，采用双模设计（用户模式和家模式）。用户模式选择相应镀层曲线键检测膜厚；

家模式可进行元素编辑，曲线标定等深入分析操作。

270 °可旋转5寸高清屏，支持多点操控，任何光线下都能清

晰显示。

密封式体设计，具备防水防尘功能，可在恶劣环境下连续

使用。

更卓越的性能

无损快速检测，对准即测，数即可报结果。性能堪比台式

机，检测效果既快又准。

SDD半导体探测器，分辨率低可达125eV，镀层厚度检

出限0.01um，实现超薄膜厚分析要求，软件搭载FP法可同

时分析合金镀层厚度和成分。

选配合金分析模块，可同时检测钛、钒、铬、锰、铁、钴、

镍、铜、锌、镓、锗、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、铟、

锡、锑、铪、钽、钨、铼、铂、金、铅、铋等元素，可以根

据客户需求定制元素。

 
产品优势

便携式镀银层测厚仪测试元素范围原子序数为12～92【镁（Mg）到铀（U）】之间的元素均可测量

分析厚度范围0.01～50um（实际分析范围随元素种类和层数不同）

分析层数高可达五层

分析时间5～30

曲线类型基本参数FP法和经验系数EC法

50KV/激发源 200uA-银靶端窗体化微型X光管及高压电源

探测器SDD半导体探测器

探测器分辨率低可达125eV

准直器和滤光片直径4.0mm和2.0mm准直器，6种滤光片组合自动切换

视频系统500万像素的高清晰摄像头

显示屏新5寸液晶显示触摸屏，其分辨率是1080x720

内置系统GPS、Wi-Fi、蓝牙

微电脑系统工业定制业系统CPU: 1G 系统内存: 扩展存储大支持32G，标配4G，可以海量存储数据。

电源

可充电锂电池，标配9000mAh 可持续工作12小时；可选配27000mAh超大电池，

配有宽电压110V～220V通用适配器，可充流供电使用。

测厚检出限低检出限可达0.01um

安性

多重安防护，不测试，无辐射，工作时的辐射水平远低于际安标准，且具有无样品空测，

自动关X光管功能。标配辐射屏蔽罩、加厚仪器合金测试壁。

仪器外形尺寸244mm（长）x 90mm（宽）x 330mm（高）

仪器重量1.7Kg

业性重金属分析软件，采用智能键测试和智能判断功能

探险者EXPLORER手持式X荧光光谱仪是天瑞仪器结合10年手持便携式研发经验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，研制出具有自主知识产权的，新代手持XRF产品。EXPLORER 5000T便携式镀银层测厚仪是先使用新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的便携式手持合金分析仪。超低的检出限使手持式分析仪的性能媲美台式机；仪器体积小，重量轻，可随身携带进行测量，适用于各类型合金样品的分析。