-
图文详情
-
产品属性
-
相关推荐
铜排镀银金属镀层测厚仪:探索高精度测量的神奇工具
是一种高精度的测量设备,可用于测量铜排上的银金属镀层厚度。它具有快速、准确、非破坏性的特点,成为了现代工业生产中不可或缺的工具。本文将详细介绍铜排镀银金属镀层测厚仪的原理、使用方法以及其在各个领域中的应用。
通过无损测量的方式,能够地测量铜排上银金属镀层的厚度。它采用了先进的技术,可以在不破坏铜排和银金属镀层的情况下,快速、准确地实现测量。通过铜排镀银金属镀层测厚仪,生产厂家可以更好地掌握产品的质量,提高生产效率,减少不良品率。同时,它还可以帮助用户及时发现银金属镀层的问题,从而采取相应的措施,确保产品质量。
原理简单且易于理解。它利用了银金属镀层的特性,通过测量信号的变化来计算镀层的厚度。当测量头接触到铜排表面时,它会发出一个特定的信号,并通过仪器内部的计算,将信号转化为对应的厚度数值。这样,生产厂家就能够准确地了解银金属镀层的厚度,并根据实际情况进行调整和改进。
除了能够测量银金属镀层的厚度,还可以应用于多个领域。在电子行业中,由于银金属具有良好的导电性能,铜排上的镀层能够提高电路的导电性能,因此测量银金属镀层的厚度对于保证电子产品的性能非常重要。在航空航天领域,铜排上的银金属镀层能够提高导热性能,因此测量镀层厚度可以确保航空器件的散热效果。在汽车制造业中,铜排镀银金属镀层测厚仪可以用于测量汽车电子设备中银金属镀层的厚度,以确保汽车电子设备的正常工作。
是一种非常重要和实用的工具。它能够准确测量铜排上银金属镀层的厚度,广泛应用于电子、航空航天和汽车制造等领域。通过使用铜排镀银金属镀层测厚仪,生产厂家可以提高产品质量,提高生产效率,降低成本。在未来的发展中,铜排镀银金属镀层测厚仪将不断进一步改进,为工业生产带来更多便利和创新。
制造商
全新
江苏省苏州昆山市中华园西路1888号
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
Si-Pin探测器
利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
φ0.1mm的小孔准直器
15℃至30℃。
交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
576(W)×495(D)×545(H) mm