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铜镀银测厚仪:铜镀银测厚仪是一种用于测量银膜厚度的专业仪器,该仪器通过测量银膜的厚度,帮助监控银膜的质量,确保产品能够达到预期的性能和寿命。在电子行业和光学行业,铜镀银测厚仪被广泛应用于银膜制备过程中的质量控制和研发工作。
银膜是一种常用的电导体材料,在电子和光学领域有着重要的应用。银膜的厚度直接影响着其导电性能、光学透射性能以及耐腐蚀性能。因此,准确测量银膜的厚度对于产品的质量控制至关重要。
铜镀银测厚仪通过使用非接触式测量方法,能够准确测量银膜的厚度。它采用了先进的光电传感技术,能够实时感知并记录银膜的厚度变化。同时,它还配备了高分辨率的显示屏和直观易懂的操作界面,使得操作者能够轻松地掌握测量过程和结果。
铜镀银测厚仪具有高度的测量精度和稳定性,能够满足对银膜厚度测量要求的高精度需求。它采用了先进的算法和自动校准功能,能够消除测量误差和系统漂移,确保测量结果的准确性和可靠性。
此外,铜镀银测厚仪还具有广泛的应用领域。在电子行业中,它被广泛应用于印刷电路板(PCB)、太阳能电池、显示器和电子器件等产品的生产和质量控制过程中。在光学行业中,它常被用于光学镀膜、激光设备和光学仪器等领域。
总之,铜镀银测厚仪在现代工业中扮演着重要的角色。它为银膜制备过程中的质量控制提供了有效的手段,保证了产品的性能和寿命。随着科学技术的发展和工业的进步,铜镀银测厚仪将会得到更广泛的应用和发展。
检测对象:
固体、液体、粉末
探测器:
SDD探测器及Fast-SDD探测器
探测器分辨率:
到128eV
激发源:
50KV/200uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源
显示屏:
新5寸液晶显示触摸屏,其分辨率是1080*720
检出限:
检出限达1~500 ppm
仪器外形尺寸:
244mm(长)x 90mm(宽)x 330mm(高)