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显微熔点仪 型号:SGW X-4库号:D159240
【应用范围】
测定物质的熔点。用于、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用玻片-盖玻片法(热台法)测定。
【性能指标】
*.熔点测量范围:室温至320℃
*.测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)
*.光学放大倍数:目镜10X;物境4X
*.温度显示小示值:1℃
*.熔点观察方式:单目显微镜
【应用范围】
测定物质的熔点。用于、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用玻片-盖玻片法(热台法)测定。
【性能指标】
*.熔点测量范围:室温至320℃
*.测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)
*.光学放大倍数:目镜10X;物境4X
*.温度显示小示值:1℃
*.熔点观察方式:单目显微镜
【应用范围】
测定物质的熔点。用于、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用玻片-盖玻片法(热台法)测定。
【性能指标】
*.熔点测量范围:室温至320℃
*.测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)
*.光学放大倍数:目镜10X;物境4X
*.温度显示小示值:1℃
*.熔点观察方式:单目显微镜
【应用范围】
测定物质的熔点。用于、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用玻片-盖玻片法(热台法)测定。
【性能指标】
*.熔点测量范围:室温至320℃
*.测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)
*.光学放大倍数:目镜10X;物境4X
*.温度显示小示值:1℃
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*.熔点观察方式:单目显微镜
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