在测量和检测工业产品的过程中，镀金层厚度是一个很重要的参数。为了能够准确测量镀金层的厚度，并确保产品质量，科学家们研发了一种高精度的镀金层厚度测量仪。这款测量仪器结合了先进的光学技术和智能算法，可以非常准确地测量出镀金层的厚度。

在使用镀金层厚度测量仪之前，首先需要将待测样品放置在测量仪的台面上。测量仪通过对样品进行全方位的扫描，可以获取到样品表面镀金层的厚度信息。同时，测量仪还可以实时显示测量结果，并将数据保存在设备内部或通过连接电脑进行存储和分析。

 应用优势
电镀膜厚测试仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；
软件可分析5层25种元素镀层；
通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的分析；
内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。

技术指标
X荧光膜厚仪型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

应用领域
对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

镀层仪器：Thick800A
测定步骤：
步：新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线
第二步：确定测试时间：40S
第三步：测试其重复性得出相对标准偏差

工作原理是基于光学干涉原理。当光线照射到厚度不均匀的薄膜上时，会产生反射和透射两束光线。这两束光线在薄膜内部发生干涉，干涉程度与薄膜的厚度有关。测量仪器通过光学传感器接收反射光的干涉信号，并通过算法处理，得出镀金层的厚度。

镀金层厚度测量仪具有高精度、即时测量、非破坏性等特点。通过使用这款仪器，不仅可以提高测量的准确性，还可以节省测量时间和成本。同时，测量仪器还可以应用于不同材料和形状的样品测量，具有很高的通用性和适用性。

在许多行业中都有广泛的应用。例如，电子行业中的电子器件制造过程中，镀金层的厚度是影响产品质量的重要因素。使用该测量仪器可以及时发现和调整镀金层的厚度，确保产品的正常运行和性能稳定。在汽车行业中，镀金层厚度测量仪也被广泛应用于汽车外部装饰件的制造过程中，以确保产品质量和外观效果。

总之，镀金层厚度测量仪是一种非常重要的测量设备，在许多行业中都发挥着关键作用。它通过先进的光学技术和智能算法，能够准确测量出镀金层的厚度，并适用于各种材料和形状的样品测量。使用该测量仪器可以提高测量的准确性、节省测量时间和成本，确保产品质量和性能稳定。相信随着科技的进步和技术的不断创新，镀金层厚度测量仪将会在更多领域得到应用，为产品质量和工业发展做出更大的贡献。