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荧光光谱镀层测厚仪:如何精准测量镀层厚度?
荧光光谱镀层测厚仪是一种先进的仪器设备,广泛应用于各个领域。它不仅可以测量镀层的厚度,还可以提供精准的数据和分析结果。本文将详细介绍荧光光谱镀层测厚仪的原理、应用、操作方法等方面的内容,帮助读者更好地了解和使用这一仪器。
首先,我们来介绍一下荧光光谱镀层测厚仪的原理。该仪器通过照射被测试物体,在荧光激发下产生的光谱进行分析,从而得出镀层的厚度。其原理基于光的吸收、发射和散射特性,通过分析不同波长的荧光光谱,可以准确测量镀层的厚度。
荧光光谱镀层测厚仪具有广泛的应用领域。在工业生产中,可以用于测量金属镀层、陶瓷涂料、油漆涂层等各种材料的厚度。在电子行业中,可以用于测量集成电路封装、半导体材料、光学薄膜等领域的薄膜厚度。在科学研究中,可以用于对材料的物理性质进行研究和分析。
应用优势
电镀膜厚测试仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
软件可分析5层25种元素镀层;
通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品的分析;
内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
技术指标
X荧光膜厚仪型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
应用领域
对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。
镀层仪器:Thick800A
测定步骤:
步:新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线
第二步:确定测试时间:40S
第三步:测试其重复性得出相对标准偏差
非常简单。首先,将待测样品放置在仪器的测试台上,并确保其表面平整。然后,通过设置仪器的参数,选择合适的测试模式和波长范围。在开始测试之前,应先进行仪器的校准,以确保测试结果的准确性。接下来,启动仪器进行测试,等待测试结果的出现。最后,根据测试结果进行数据分析和处理。
具有许多优点。首先,它能够测量各种类型的涂层和薄膜,具有很高的通用性。其次,仪器的测试速度快、精度高,可以大大提高工作效率。此外,该仪器还具有体积小、操作简单、易于维护等特点。
是一种非常重要的仪器设备,可以广泛应用于各个领域。通过测量镀层的厚度,可以更好地掌握材料的性能和质量,提高生产效率和产品质量。相信随着技术的不断进步,荧光光谱镀层测厚仪将发挥越来越重要的作用。
制造商
全新
江苏省苏州昆山市中华园西路1888号
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
Si-Pin探测器
利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
φ0.1mm的小孔准直器
15℃至30℃。
交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
576(W)×495(D)×545(H) mm