高精度半导体光耦测试系统-双功能版
价格:电议
地区:陕西省 西安市
电 话:029-33197397
手 机:15353786259


BW-3010B


晶体管光耦参数测试仪(双功能版)



品牌: 博微电通

名称:晶体管光耦参数测试仪(光耦&光电传感器双功能版)

型号: BW-3010B

用途: BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。                                                                      

BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器和光电传感器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试,BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降(VF)和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中,测试条件可以任意设置,测试正向压降和输出电流可达1A,操作简便,实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。

产品电气参数:

产品信息

产品型号:BW-3022A

产品名称:晶体管光耦参数测试仪;

物理规格

主机尺寸:深 305*宽 280*高 120(mm)

主机重量:<4.5Kg

主机颜色:白色系

电气环境

主机功耗:<75W

环境要求:-20℃~60℃(储存)、5℃~50℃(工作);

相对湿度:≯85%;

大气压力:86Kpa~106Kpa;

防护条件:无较大灰尘,腐蚀或爆炸性气体,导电粉尘等;

电网要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

工作时间:连续;


服务领域:

     应用场景:

    ?选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对)

    ?检验筛选(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率)

    产品特点:

    ?大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单

    ?大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.

    ?全部可编程的DUT恒流源和电压源.

    ?内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.

    ?高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V;

    ?重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题;

    ?软件自校准功能;

    ?自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试;

    ?DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型,显示测试结果是否合格,并有声光提示;

    ?两种工作模式:手动、自动测试模式。

         BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系

型号类型

P1

 T1

P2

 T2

P3

T3

P4

T4

光藕PC817

A

A测试端

K

K测试端

E

E测试端

C

C测试端

                                                BW-3010B测试技术指标:

1、光电传感器指标:

输入正向压降(VF)

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA



反向电流(Ir)

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-200UA

0.2UA

<2%+2RD

VR:0-20V



集电极电流(Ic)

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-40mA

0.2MA

<1%+2RD

VCE:0-20V IF:0-40MA

输出导通压降(VCE(sat))

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC:0-40mA

IF:0-40mA

输出漏电流(Iceo)

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-2.000mA

2UA

<2%+2RD

VR:0-20V

2、光电耦合器:

耐压(VCEO)测试指标

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-1400V

1V

<2%+2RD

0-2mA

输入正向压降(VF)

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA

反向漏电流(ICEO)

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

BVCE=25V

反向漏电流(IR)

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

VR=0-20V

电流传输比(CTR)

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-9999

1%

1% +5RD

BVCE:0-20V

IF:0-100MA

输出导通压降(VCE(sat))

测试范围

分辨率

精度

测试条件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC:0-1.000A

IF:0-1.000A

可分档位总数:10档

       BW-3010B测试定义与规范:

AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极.

VF:IF: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.

Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.

Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.

CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。

CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。

Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。

Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。