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JDG-S2 数字式立式光学计
被测件0~180mm,小示值0.1μm
一、用途
数字式立式光学计JDG-S2是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量,本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研,过程控制及在线测量等方面,对被测件作微小位移测量,及对非金属如:薄膜、纸张等的厚度测量。
主要参数
被测件*大长度: 200mm
直接测量范围: 10mm
小显示值: 0.1μm
测量力: (2±0.2)N
示值变动性: 0.1μm
大不准度: ±0.25μm
读数方式: 数字显示
大测量: ±(0.5+L/100)μm ,L是被测长度,以mm计
仪器体积: 300×170×410mm
仪器重量:18 kgs
JDG-S2 数字式立式光学计
被测件0~180mm,小示值0.1μm
一、用途
数字式立式光学计JDG-S2是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量,本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研,过程控制及在线测量等方面,对被测件作微小位移测量,及对非金属如:薄膜、纸张等的厚度测量。
主要参数
被测件*大长度: 200mm
直接测量范围: 10mm
小显示值: 0.1μm
测量力: (2±0.2)N
示值变动性: 0.1μm
大不准度: ±0.25μm
读数方式: 数字显示
大测量: ±(0.5+L/100)μm ,L是被测长度,以mm计
仪器体积: 300×170×410mm
仪器重量:18 kgs
JDG-S2 数字式立式光学计
被测件0~180mm,小示值0.1μm
一、用途
数字式立式光学计JDG-S2是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量,本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研,过程控制及在线测量等方面,对被测件作微小位移测量,及对非金属如:薄膜、纸张等的厚度测量。
主要参数
被测件*大长度: 200mm
直接测量范围: 10mm
小显示值: 0.1μm
测量力: (2±0.2)N
示值变动性: 0.1μm
大不准度: ±0.25μm
读数方式: 数字显示
大测量: ±(0.5+L/100)μm ,L是被测长度,以mm计
仪器体积: 300×170×410mm
仪器重量:18 kgs
立式光学计
被测件0~180mm,小示值0.1μm
0.1μm
200mm
(2±0.2)N
10mm