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图文详情
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产品属性
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膜厚测试仪XU-100性能特点:
1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,测量面积达0.03mm2
2)拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm
3)核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测外层Ni和第三层Ni的厚度)
4)配备高精密微型移动滑轨,可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测
5)可同时分析23个镀层,24种元素,测量元素范围:氯Cl(17)- 铀U(92),涂镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92),涂镀层检出限:0.005μm
6)人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作
7)标配φ0.2mm准直器,测量面积可达0.03mm2
8)配有微光聚集技术,最近测距光斑扩散度10%
膜厚测试仪XU-100软件优势:
1. 清晰化操作界面布局
简约的布局设计,可令操作员快速的掌握软件基本操作。
2. 便捷化程式选择
增加了日常镀层程序快捷键设计按钮,无需进入程序库挑选,便可快速检测,提升工作效率。
3. 高清可视化窗口
可以清晰直观的观测到被检测样品的状态,通过独有的变焦调节旋钮,达到用户最
理想的观测效果。
4. 多通道数字谱图界面
清晰化呈现被检样品的元素谱图,配合先进的解谱技术,精准计算出结果。
5. 仪器状态实时监测数据汇总
可一目了然的观测到仪器运行状况,有任何异常,系统都将提醒,大大降低操作失误。
膜厚测试仪技术规格 | XU-100 |
测量元素范围 | Cl(17)- U(92) |
涂镀层分析范围 | Li(3)- U(92) |
EFP算法 | 标配 |
分析软件 | 同时分析23个镀层,24种元素 |
不同层相同 元素检测能力 | 标配 |
软件操作 | 人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作 |
X射线装置 | 微聚焦射线管 |
准直器 | Φ0.2mm; |
微光聚焦技术 | 最近测距光斑扩散度 10% |
测量距离 | 具有距离补偿功能,可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm |
样品观测 | 1/2.7”彩色CCD,变焦功能 |
对焦方式 | 高敏感镜头,手动对焦 |
放大倍数 | 光学38-46X,数字放大40-200倍 |
仪器尺寸 | 550mm×360mm×410mm |
样品舱尺寸 | 长435mm×宽330mm×高140mm |
样品台移动 | 高精密XY手动滑轨 |
可移动范围 | 50mm*50mm |
仪器重量 | 48KG |
其他附件 | 电脑一套、打印机、附件箱、十二元素片、电镀液测量杯(选配)、标准片(选配) |
X射线标准 | DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568 |
膜厚测试仪XU-100在钕铁硼镀镍镀铜镀镍(Ni/Cu/Ni/NdFeB)的测试:
钕铁硼磁铁具有优异的磁性能,被广泛应用于电子、电力机械、医疗器械、玩具、包装、五金机械、航天航空等领域。
钕铁硼磁铁的常见的电镀方式为镀镍镀铜再镀镍,由于该类镀层方式中同一元素Ni镀层分布在不同的层级,加上X射线荧光检测的是元素的荧光能量,对于分布在不同层的同一元素,普通仪器不能具体区分荧光来自具体的哪一层。
制造商
全新
苏州
下照式
30
0.005um