常规XRD数据分析

常规XRD数据分析

项目简介

常规XRD数据分析可以做结晶度计算，晶粒尺寸计算，物相鉴定，晶面标注，全岩/黏土分析。

样品要求

要求测试速率最快2度/min，太快影响测试分析结果，一般测试速率低，获得的谱图准确性越高。

本公司可进行以下各类仪器测试：EXAFS、球差电镜、冷冻电镜、原位透射、原位XRD、原位拉曼、原位红外、原位XPS、原位EBSD、穆斯堡尔谱、TOF-SIMS、fS-TAS、球差电镜、FIB、TEM度(可离子减薄、双喷、FIB制样)、磁性HRTEM、SAED、MAPPING、原位TEM、三维重构等。SEM（冷场/热场超高分辨，10-20万倍(云直播) ），EBSD 机械抛光/电解抛光/氩离子抛光+原位EBSD测试 。AFM 、形貌、杨氏模量、KPFM、PFM、EFM、CAFM等。工业CT 、EPMA 、三维轮廓仪、共聚焦显微镜。常规XRD、原位XRD、UPS、单晶、XRF、SAXS。能谱XPS、TOF-SIMS、俄歇电子谱辉光质谱。 光谱 红外、拉曼、紫外、荧光、圆二色谱、吡啶红外、fs-TAS。物理吸附、化学吸附、压汞。核磁 液体核磁、固体核磁、ESR/EPR穆斯堡尔谱。成分分析 ICP-OES、ICP-MS 、IC、 EA 、TOC、 C/S 。热分析 TG-DSC TG-MS 、TG-IR、 热膨胀TMA、 DMA 、比热容 、导热系数 。锥形量热仪 、极限氧指数、 UL94燃烧 。色谱质谱 GPC 、MS 、HPLC 。水分测定 GC-MS 、PY-GC-MS、 MALDI TOF-MS。物性测试 VSM、 SQUID 、PPMS 。粒度 ZETA 、固体ZETA 接触角。粘度 、矢量网络 、水分测定、 霍尔效应 、塞贝克系数、 流变仪 、电导率、 阻抗 、肖特基 、光电流、 SPV 、电磁屏蔽 、介电、 透气性测试 。力学性能 纳米压痕、 微米划痕、 拉伸 、疲劳 、冲击、 残余应力、 硬度。