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产品属性
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型号 752
带宽 4nm
波长范围 200~1000nm(步进间隔0.1nm)
波长准度(≤) ±2.0nm(开机自动校准)
波长重现性(≤) 1nm
测定范围 0.0~125.0%T -0.097~2.70A
浓度0~1999
透射比准度(≤) ±0.5%T
透射比重复性(≤) 0.2%T
杂散光(≤) 0.5%T(在220、360nm处l)
基线直线性(≤) /
稳定性/基线漂移(≤) ±0.003A/h
型号 752
带宽 4nm
波长范围 200~1000nm(步进间隔0.1nm)
波长准度(≤) ±2.0nm(开机自动校准)
波长重现性(≤) 1nm
测定范围 0.0~125.0%T -0.097~2.70A
浓度0~1999
透射比准度(≤) ±0.5%T
透射比重复性(≤) 0.2%T
杂散光(≤) 0.5%T(在220、360nm处l)
基线直线性(≤) /
稳定性/基线漂移(≤) ±0.003A/h
型号 752
带宽 4nm
波长范围 200~1000nm(步进间隔0.1nm)
波长准度(≤) ±2.0nm(开机自动校准)
波长重现性(≤) 1nm
测定范围 0.0~125.0%T -0.097~2.70A
浓度0~1999
透射比准度(≤) ±0.5%T
透射比重复性(≤) 0.2%T
杂散光(≤) 0.5%T(在220、360nm处l)
基线直线性(≤) /
稳定性/基线漂移(≤) ±0.003A/h
型号 752
带宽 4nm
波长范围 200~1000nm(步进间隔0.1nm)
波长准度(≤) ±2.0nm(开机自动校准)
波长重现性(≤) 1nm
测定范围 0.0~125.0%T -0.097~2.70A
浓度0~1999
透射比准度(≤) ±0.5%T
透射比重复性(≤) 0.2%T
杂散光(≤) 0.5%T(在220、360nm处l)
基线直线性(≤) /
稳定性/基线漂移(≤) ±0.003A/h
型号 752
带宽 4nm
波长范围 200~1000nm(步进间隔0.1nm)
波长准度(≤) ±2.0nm(开机自动校准)
波长重现性(≤) 1nm
测定范围 0.0~125.0%T -0.097~2.70A
浓度0~1999
透射比准度(≤) ±0.5%T
透射比重复性(≤) 0.2%T
杂散光(≤) 0.5%T(在220、360nm处l)
基线直线性(≤) /
稳定性/基线漂移(≤) ±0.003A/h紫外可见分光光度计 型号752 库号M312728紫外可见分光光度计 型号752 库号M312728紫外可见分光光度计 型号752 库号M312728紫外可见分光光度计 型号752 库号M312728
0.0~125.0%T-0.097~2.70A
0~1999
200~1000nm(步进间隔0.1nm)
\\t±0.5%T
\\t±2.0nm(开机自动校准)
0.2%T
\\t1nm