产品简介

GTEM室射频辐射抗扰度测试系统是凌世根据IEC61000-4-3标准要求基于GTEM技术开发的射频抗扰度预测试系统，全系统性能可靠，操作便捷，测试效果堪与暗室比拟，目前已广泛应用于电力、通信、质检等领域，为评定小型电子设备对辐射电磁场干扰敏感性建立有力的测试依据。

符合标准

IEC61000-4-3   IEC61000-4-20     GB/T17626.3    GB/T17215系列