玖锦科技LCR1000A射频阻抗分析仪3GHz
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玖锦科技LCR1000A

射频阻抗分析仪3GHz


产品概述

LCR1000A 是玖锦科技自主研发的基于射频 I-V 测量法的射频阻抗分析仪,其拥有卓越的测量精度和较宽的频率范围、极快的测量速度、丰富的功能、现代化的用户界面与接口、全面的兼容性、多种可选附件等特性,同时为测量射频器件的高频特性提供 1MHz~3GHz 的频率范围,可全面对标业界同类领先产品。无论是新型元器件研发认证和失效分析、质检来料筛选还是大规模生产线自动化测试,LCR1000A 都能为您出色的完成测量任务。


主要特点

◆测量频率高达 3GHz

◆阻抗测试范围 140mΩ~4.8kΩ

◆基本测量精度高达 0.45%

◆测量速度高达 2.2ms/点

◆全面兼容业界主流 LCR 表 SCPI 指令集,且内置业界主流夹具的修正参数


技术指标image.png


主要应用


1.大规模元器件生产线自动化测试

随着无线通信技术的进步,元器件的阻抗测量范围不断扩大到数百赫兹甚至 3GHz。而电子产品以前所未有的速度普及,导致元器件工厂的日产量跨过百万片级别。因此需要在保证测量准确性的前提下对元器件进行高效率的测试,同时作为产线测试核心的仪器仪表须具备极高的可靠性。玖锦科技的 LCR1000A 射频阻抗分析仪的测量速度快、工作稳定,完全符合生产线上对测试仪器高吞吐量、高可靠性的要求。

支持快速测量模式,高达 2.2ms/点的测量速度

支持 8 个表同时测量,每个表 201 个测试点

支持业界主流高精度夹具和校准件

内置机械手接口,适合全自动化生产线

全面兼容市场上主流的同类射频 LCR 表的 SCPI 指令集

可靠性高,MTBF 不小于 5000 小时


2.元器件的质检和来料筛选

元器件不断向高精度、高频段发展,这对其质检和筛选提出了更高要求。LCR1000A 射频阻抗分析仪采用射频 I-V 测量方法进行阻抗测量,能够在 1MHz~3GHz 频率内对元器件进行精准测量;同时可根据不同的元器件自定义测量任务,灵活搭配待测参数,连接不同的夹具进行精密测量与结果分析。

支持所有常用的阻抗参数测量

支持 13 个 Bin

自定义被测参数的 devia-tion/limit

提供兼顾测试精度与测试速度的通用测量模式

高级统计分析功能

高精度补偿功能和附件


3.新型元器件研发认证和失效分析

在新型元器件研发过程种,测量结果的精准度高低、设计细节的优劣直接决定研发的成败。而研发工程师对测试仪器的多功能性有很高的要求,以便适应各种开发任务。玖锦科技 LCR1000A 射频阻抗测试仪凭借其极高的测试精度、丰富的测量功能,帮助广大研发工程师轻松应对挑战。

提供高精度测量模式,阻抗测量精度高达 0.45%

支持自产或业界主流高精度夹具

业界主流的高精度校准件和补偿件

自定义的功能键/参数

列表扫描测量,表格和绘图格式

高级统计分析功能

10.4 英寸 LCD 触摸屏

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企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

成都

测量频率:

3GHz

阻抗测试范围:

140mΩ~4.8kΩ

基本测量精度:

0.45%

测量速度:

2.2ms/点

尺寸:

440mm×234mm×297.5mm(W×H×D)

重量:

≤14.5kg