X荧光测厚仪采用高度定位激光，可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率使分析结果更加准确 良好的射线作用 测试口高度敏感性传感器保护X荧光测厚仪应用领域 黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测. 金属镀层的厚度测量, 和镀层含量的测定。 主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；X荧光测厚仪定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
光谱测厚仪
测试口高度敏感性传感器保护
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
光谱测厚仪同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
多变量非线性回收程序