ROHS分析仪 XRF350B元素卤素检测光谱仪-维库仪器仪表网

ROHS分析仪 XRF350B元素卤素检测光谱仪

XRF350B元素分析仪光谱仪，ROHS测试仪

产品慨述

能量色散 X 荧光光谱仪（EDXRF）

XRF-350B 是一款专门 RoHS 检测仪器，其核心光路系统集合国内外几十年 EDXRF 尖端技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美国 EDXRF 前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告；精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。

一、XRF-350B机型指标介绍

1.1 工作条件
工作温度：15-30℃
相对湿度：40%～50%
电源：AC :220V ±5V

1.2 技术性能及指标:
1.2.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U)；
1.2.2 元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；
1.2.3 测量时间：100-300秒；
1.2.4 RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其检测限度最--高达1PPM；
1.2.5 能量分辨率为160±5电子伏特；
1.2.6 温度适应范围为15℃至30℃；
1.2.7 电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。）

名称	技术参数
探测器	美国进口 sipin 电制冷半导体探测器（zui新探测器）
高压电源	管流:0~50kV 管压:0~2mA
射线管	靶材：Mo , W;功率:50W
准直器	光斑大小:φ0.2mm φ0.5mm、φ1.0mm、φ2.0mm、φ3.0mm、φ4.0mm、 φ6.0mmφ8.0mm
样品仓大小	439x300x50mm; 仪器尺寸：550x410x320mm;
检出限	对聚合物材料：LOD( Pb )≤5ppm ; LOD( Hg )≤5ppm ; LOD( Cr )≤5ppm ; LOD( Br) ≤5ppm ; LOD( Cd )≤5ppm ;对铜基体材料：LOD( Pb)≤20ppm ;
测试时间	30sec~100sec
镀层测试参数	偏差：D一层＜5%；第二层＜10%；第三层＜15%