Chroma 19501-K局部放电测试器内建交流 耐电压测试(Hipot Tes t)与局部放电(Partial D i s c h a rg e, P D)侦测功能于一单机，提供 交 流 电 压 输 出 0 . 1 k V ~ 1 0 k V ， 漏 电 流 测 量 范围0 . 0 1 μ A ~3 0 0 μ A，局部放电侦测范围 1pC~2000pC，针对高压半导体组件与高绝缘材 料测试应用所设计与开发。

 Chroma 19501-K局部放电测试器产品设计符合IEC60270-1法规，针对高电压试验技术中对 局部放电测试要求，采用窄频滤波器 (Narrowband) 量测技术进行PD放电量测量，并将量测 结果以直观数值 (pC) 显示在屏幕上让用户清 楚明了待测物测试判定结果。 

产品设计上，除了符合IEC60270-1，同时也符 合光耦合器IEC60747-5-5与VDE0884法规要 求，内建IEC60747-5-5法规之测试方法于仪器内 部，满足光耦合器产品生产测试需求，并提供使 用者便利的操作接口。 于生产在线执行高压测试时，如果待测物未能正 确及良好连接测试线，将导致测试结果失败甚至 发生漏测的风险，因此在测试前确保待测物与测 试线良好连接是非常重要的。

Chroma 19501-K独特之高 压接触检查功能 (High Voltage Contact Check : HVCC) 系利用Kelvin测试方法针对高绝缘能力之 组件，于高压输出时同步进行接触检查，增加测 试有效性与生产效率。 在固体绝缘物中含有气隙或杂质混合在绝缘层 时，额定工作高压状态下，由于较高的电场强度 集中于气隙而产生局部放电 (Partial Discharge), 持续性的局部放电会长久劣化周遭绝缘材，而影 响电气产品之长久信赖性，而引起安全事故。 

应用于电源系统之安规组件，如光耦合器，因考量如果组件长时间发生局部放电对于绝缘材料的 破坏，而发生绝缘失效的情况，进而引发使用者 人身安全问题；因此，在IEC60747-5-5法规中提 及，于生产过程中 (Routine test) 必须100%执行 局部放电 (Partial discharge) 检测，在绝缘电压条件下不能超过5pC放电量，确保产品在正常工作环境中不会发生局部放电现象。 局部放电测试器主要针对高压光耦合器、高压继 电器及高压开关等高绝缘耐受力之组件，提供高 压的耐压测试与局部放电侦测，确保产品质量与提升产品可靠度。

Chroma 19501-K特点：

■ 单机内建交流耐压测试与局部放电侦测功能

■ 可程序交流耐压输出 0.1kVac~10kVac

■ 高精度及高分辨率电流表 0.01μA~300μA

■ 局部放电(PD)侦测范围 1pC~2000pC

■ 高压接触检查功能( HVCC)

■ 符合IEC60747-5-5、VDE0884、 IEC 60270法规测试要求

■ 内建IEC60747-5-5测试方法

■ 量测与显示单元分离式设计

■ 三段电压测试功能

■ PD测量结果数值显示 (pC)

■ PD不良发生次数判定设定 (1~10)

■ 多语系繁中/ 简中/英文操作接口

■ USB画面撷取功能

■ 图形化辅助编辑功能

■ 标准LAN、USB、RS232远程控制

局部放电 Partial Discharge 局部放电意指在绝缘物体中局部区域发生放电，且未形成两电极间的固定通道放电即称为局部放电。

局部放电测试器对待测物施加一个特定条件下的电压，测量其视在放电电荷量(PD)，除了验证其能否承受瞬间高电压(Hipot Test)的能力，同时也 验证在额定工作电压的绝缘完整性。

局部放电测试能够侦测待测物是否存在异常气隙，透过施加一个略高于组件额定工作电压的局部放电电 荷测试，用以检验电气组件在正常工作电压条件下之长久可靠性，但于实际生产上绝缘材料内部当然不可能百分之百无气隙存在于绝缘材料内， 故在IEC60747-5-5光耦合器法规针对局部放电测试定义其放电电荷量不能大于5pC (qpd =5pC)。