为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整 合功能更为复杂的发展驱势，Chroma以此发展 方向提供新一代3380系列VLSI测试机台，包含 3380D、3380P、3380机型，根据不同的脚位数 或并行测试 (Parallel Test)，提供需求与成本效 益兼具的测试解决方案。 此系列机型之一的VLSI测试系统3380，具有1280数字信道管脚、256 VI、弹性化架构、以 及完整选项功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特 色；可符合高同测的市场驱势，具备1024数字 信道管脚可并行测试1024个芯片的能力。除了 独特的4-wire高密度IC电源(VI source) 外，弹性 化可调整的架构还可提供Mini & Macro LED驱 动IC、CMOS影像传感器(CIS)、及3D影像测试 等解决方案；以利涵盖更广泛的IC测试功能与应 用范围。 3380 VLSI测试系统可无缝接轨3380D (256pins) 与3380P (512pins)，以因应更高的产能需求。 3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、 友善使用接口、及成本效益上，长期以来皆已于 中国市场获得广泛印证。

应用范围

■ 微控制器单元 (MCU)

■ ADC/DAC混合信号IC

■ 逻辑IC

■ ADDA

■ ALPG

■ Smart card

■ Mini & Macro LED驱动IC

■ CMOS影像传感器 (CIS)

■ 电源IC (Class D IC)

■ 消费性IC

■ LED驱动IC

VLSI测试系统特点

■ 50/100 MHz 测试频率

■ 50/100 Mbps 数据速率

■ 1024 I数字信道管脚 (1280 数字信道管脚)

■ 高达1024 sites 并行测试

■ 32/64/128 pattern 内存

■ 16M capture memory per pin

■ 多样化 VI 电源

■ 弹性化硬件架构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)

■ Real parallel trim/match 功能

■ 时序频率测试单位 (TFMU)

■ 高速时序测试单位 (HSTMU)

■ 支持STDF工具

■ 测试program/pattern转换器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312, V7, TRI-6036等)

■ AD/DA功能板卡 (可选配)

■ SCAN向量存储深度(2G bits/chain) (可选配)

■ ALPG 测试功能可供内存IC用 (可选配)

■ CRAFT C/C++ 程序语言

■ 软件接口与3380P/3360P相同