Chroma 2918为一款高性能、高稳定性液晶模块自动测试系统，以模块式架构设计，可灵活搭配不同信号及电源模块，组合所需测试条件，弹性高、扩充性强。Chroma  2918 提供下列测试功能：

支持8Kx4K SHV超高清分辨率

提供8K超高清分辨率测试支持(7680x4320/ 8192x4320)，可完整支持8K@60/120Hz分辨率

规格(32/64 lane V-By-One)。

高速同步信号模块设计

模块化接口支持LVDS/V-by-One/eDP等业界主流液晶模块接口，客户可依据检测应用选择。系统采用双核心绘图处理架构设计，大幅度提升绘图和数据传输速度，其中V-by-One接口主信道数据传输速率可达3.75GHz/Lane，且8K超高清分辨率图像切换时间最快仅需200毫秒，提供客户高速、高规格、弹性的新一代信号设备。

可编程电源模块

内建电源模块为VDD与VBL可编程电源模块，可依据待测物规格提供TCON  (Timing Controller)与背光模块电压，并提供电流量测、电源启始、结束时间  (Turn On/Turn Off)、扫描时序(Timing)、电源自动补偿功能、回转率  (SlewRate)可调整功能、电压/电流上下限、保护设定(OCP/OVP/UCP/UVP)等参数设定，提供完整且之测试。

时序参数、图像及测试程序编辑

产品本身支持标准JEIDA/VESA Timing 格式，使用者可直接选择或依其需求建立各式不同的时序参数。另藉由Icon之任意组合，可建立各种测试所需之几何图像，亦可输入扩展名为BMP之自然风景图，可储存300张8Kx4K点阵格式 (BMP) 图像。

简易操作环境与网管控制(选购)

生产测试部分，Chroma 2918在搭配计算机于产线应用时可选购客制化GO/NOGO软件，提供管理者预先设定作业员权限，统一系统管理模式，减少人为错误操作。其简易友善图像接口，易于上手，于测试时运用十字坐标缺点定位检查及纪录，包括液晶模块之缺陷种类及级数分类等信息建立并可产出各种测试报表分析，能够以最快速之方式完成测试，大幅缩短测试时间。为满足产线完整测试应用及管理，可规划建置与客户系统端进行测试程序维护与管理、数据上传/、统计、EDID 写入之网管联机功能，使系统管理者在一时间掌握厂区生产状态进行远程监控，并可作为产能、效率、良率之检讨。

特点

■ 支持8K SHV超高清分辨率    

  (Super Hi-Vision 7680x4320 / 8192x4320)

■ 支持完整8K卷动 (Scrolling) 功能

■ 信号与电源分离设计独立模块

■ 双核心绘图处理架构

  - 大幅提升绘图和数据传输的效能

  - 8K超高清图像切换时间最快可达200毫秒

■ Color Bit 支援 6/8/10/12 Bits

  (12 bit only in LUT mode)

■ 支持用户自由编辑测试图形

  - 支持点阵格式 (BMP) 图像

  - 可储存300张8Kx4K点阵格式图像

■ 支持VDIM和PWM Dimming功能

■ 支持十字坐标缺陷点定位功能

■ 支持Auto Flicker调整功能

  (搭配A712306使用)

■ 支持Gigabit Ethernet高速网络

  通讯控制接口

■ 支持USB 数据更新功能

Chroma 2918为一款高性能、高稳定性平面显示器测试器