Chroma  19501-K局部放電測試器內建交流耐電壓測試(Hipot  Tes t)與局部放電(Par t ial 

Di s c h a rg e,   PD)偵測功能於一單機，Chroma  19501-K提供交流電壓輸出0 . 1 k V ~ 1 0 k V，漏電流測量範圍0 . 0 1 μ A~3 0 0 μ A，局部放電偵測範圍1pC~2000pC，針對高壓半導體元件與高絕緣材料測試應用所設計與開發。

Chroma  19501-K局部放電測試器產品設計符合IEC60270-1法規，針對高電壓試驗技術中對

局部放電測試要求，採用窄頻濾波器  (Narrow-band) 量測技術進行PD放電量測量，並將量測

結果以直觀數值  (pC) 顯示在螢幕上讓使用者清楚明了待測物測試判定結果。

Chroma  19501-K產品設計上，除了符合IEC60270-1，同時也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規要求，內建IEC60747-5-5法規之測試方法於儀器內部，滿足光耦合器產品生產測試需求，並提使用者便利的操作介面。

於生產線上執行高壓測試時，如果待測物未能正確及良好連接測試線，將導致測試結果失敗甚至發生漏測的風險，因此在測試前確保待測物與測試線良好連接是非常重要的。Chroma獨特之高壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check : HVCC) 係利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件，於高壓輸出時同步進行接觸檢查，增加測試有效性與生產效率。在固體絕緣物中含有氣隙或雜質混合在絕緣層時，額定工作高壓狀態下，由於較高的電場強度集中於氣隙而產生局部放電  (Partial Discharge),持續性的局部放電會長久劣化周遭絕緣材，而影響電氣產品之長久信賴性，而引起安全事故。應用於電源系統之安規元件，如光耦合器，因考量如果元件長時間發生局部放電對於絕緣材料的破壞，而發生絕緣失效的情況，進而引發使用者人身安全問題；因此，在IEC60747-5-5法規中提及，於生產過程中 (Routine test) 必須100%執行局部放電  (Partial discharge) 檢測，在絕緣電壓條件下不能超過5pC放電量，確保產品在正

常工作環境中不會發生局部放電現象。局部放電測試器主要針對高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關等高絕緣耐受力之元件，提供高壓的耐壓測試與局部放電偵測，確保產品品質與提升產品可靠度。