今天我们就使用ITECH近期升级的一款高性能电子负载产品，艾德克斯IT8700P多路输入可编程直流电子负载来进行测试一个DC/DC组件，实际测试解密一下。艾德克斯IT8700P为高性能可编程多路电子负载的升级版本，保持了原有的25KHZ的较高动态测试速度，并且具备多个可选模块以及功能强大的主控机箱，并为了进一步满足不同客户的测试需求，可选配前置端子接线功能，并且对斜率速度，DAC 输出速度，CV 环路速度进行了一系列优化升级，艾德克斯IT8700P能更好的满足测试需求。

ITECH/艾德克斯IT8700P多通道电子负载测试解密

测试仪器

IT8732P（80V/60A/400W）+IT8702P（主控单元）

测试背景

DC/DC组件正常工作输出电压为5V/1A。在电流上升超过2.8A时，产品会进入OCP的保护模式，直到异常状况排除后才会再回到正常工作模式。

测试问题

1、Von设定为0.1V, latch设为off。

2、IT8732P设定为1A CC mode 拉载，待测物正常工作，输出5V/1A。

3、拉载电流增加到3A，待测物应该进入OCP保护模式。但此时却处于振荡的状态，电压值由0V ~ 4.8V 振荡。此时如果再将IT8732P的拉载电流降为1A，待测物则处于正常工作模式5V, 1A。

测试问题2

1、Von设定为0.001V, latch设为off。

2、IT8732P设定为1A CC mode 拉载，待测物正常工作，输出5V/1A。拉载电流增加到3A，待测物进入OCP保护模式。

3、拉载电流回到1A，待测物没有恢复成工作模式5V/1A。必须要先把IT8732P泄载切到OFF后，再加载切为ON时，待测物才会再处于正常的工作模式。

测试问题3

1、Von设定为0.001V, latch设为off。

2、待测物正常工作5V/1A时，执行Short功能，电压降至约0V。

3、当Short功能OFF时，负载设定值恢复，待测物电压并未回到5V。必须把IT8732P泄载切到OFF后，再加载切为ON时，待测物才会再处于正常的工作模式

从以上的测试我们可以看到，不同的待测物由于其不同的设计特性，在进入保护后其电压值与电流值的关系与负载的性能会有些许冲突，导致测试时发生异常。所以我们在测试时要了解待测物与测试仪器本身的规格、特性与限制，才能避免造成误判，发挥测试仪器的效用。我们只需在待测物进入OCP后，先将IT8700P的拉载电流降到0.8A以下，使得待测物释放后再进行下一个测试程序，即可完成测试。