绕线组件脉冲测试器

IMPULSE  WINDING  TESTER

MODEL CHROMA 19301A

Chroma19301A为绕线组件脉冲测试器，结合了高低感量测试技术应用，拥有1000Vdc脉冲电压与200MHz高速取样率，可提供0.1uH~100uH大范围感量产品测试满足绝大部份功率电感测试需求，拥有波形面积比较(AREASIZE)、波形面积差比较(DIFFERENTIALAREA)、波形颤动侦测(FLUTTER)、波形二阶微分侦测(LAPLACIAN)、波峰降比侦测(ΔPEAKRATIO)/波峰比侦测(PEAKRATIO)及共振波面积比(ΔRESONANTAREA)等判定方法，可有效检测线圈自体绝缘不良。绕线组件于生产检测包含电气特性、电气安规耐压进行测试，而线圈之自体绝缘不良通常是造成线圈于使用环境中发生层间短路、出脚短路之根源。其形成原因可能源于初始设计不良、molding加工制程不良，或绝缘材料之劣化等所引起，故加入线圈层间短路测试有其必要性.

主要特点

■高低感量测试应用(0.1μH~100μH)

■10V~1000V脉冲测试电压，0.25V测量分辨率

■高速测试最快18mS(Pulse1.0;forACQ)

■具备电感测量接触检查功能

■具备电感差异电压补偿功能

■脉冲测试高取样率(200MHz)，10bits

■崩溃电压分析功能

■低电压量测文件位,提高波形分析灵敏度(25V/50V/100V/200V/400V/800V/1000V)

■繁中/简中/英文操作接口

■USB波形储存与画面撷取功能

■图形化彩色显示

■标准LAN、USB、RS232接口

脉冲测试概论与原理

绕线组件脉冲测试是对待测物施加一个『非破坏性』、高速、低能量之电压脉冲。由于电容(Cs)与绕线组件并联，当脉冲电压加压于并联线路上时，电容与绕线组件产生LC谐振(Resonance)，观察谐振振荡(Oscillations)的衰减情况也就是阻尼(Damping)来了解绕线组件内部线圈的制程状态(包含线圈自体之绝缘、线圈感量及并联电容量(Cw)等状态)(如图1:测试等效电路图)。也可藉由分析／比对待测物良品与不良品之等效波形以达到判定良否之目的。绕线组件脉冲测试主要功能为提早发现绕线组件中各种潜在之缺陷(例如：绕线层间短路、电极焊接不良、内部线圈或磁芯绝缘不良等)。

Rp检查(RpCheck)

利用波峰比侦测(PeakRatio)来侦测Rp的大小为Chroma特有的测试技术，可检出Rp异常或劣化.部分电感待测物在测试前既已因铁芯损失过大或轻微铁芯与漆包线短路导致Q值略低(Rp小)，脉冲测试结束后，将开关开路(SW1OFF)并观察电压震荡波形中峰值与第二个峰值的衰减速度及比例之差异来检测出异常品。波峰比的值越大表示Rp的值也越大,相对的Q值也会比较高。

低电压文件位

低感量产品，如智能型手机中的Powerchoke，其工作电压较低且体积较小，可测试电压相对较低，因此用于量测低感量之脉冲测试设备需具备较低电压文件位来进行波形分析，Chroma19301A具有七个电压文件位分别为25V,50V,100V,200V,400V,800V及1600V,以及拥有较低0.25V的电压辨识度，测试电压可从10V开始进行测试，可有效提高波形判定辨识能力。

电压补偿功能

一般如变压器等感量较大的线圈进行测试时，配线等效感量相对较小，但在低感量测试时，低感量待测物(如0.2uH)会因配线等效感量大小会影响待测物上之实际电压，尤其在自动化测试应用时，降低配线影响是一重要设计考虑。过高的配线阻抗会使低感量测试时电压分压在测在线，导致待测物上的电压低于设定值而无法有效检出不良品。且电感产品感量规格可达正负30%，因此于低感量测试应用时，会因待测物感量变化而造成实际端点上电压差异更加明显，导致波形面积判定失效或测试电压未达要求之电压。Chroma19301A具备电感差异电压补偿功能，改善上述问题及降低因感量差异造成于端点上实际电压的差异，进而降低误判的可能性。一般应用时电感待测物(Lx)两端端电压(Vx)会与配线电感(Li&Lw)于线路上形成串联分压,其计算方式如下: