局部放电测试仪

PARTIAL DISCHARGE TESTER

MODEL Chroma 19501-K

基本介绍

Chroma 19501-K局部放电测试器内建交流耐电压测试(Hipot Tes t)与局部放电(Partial D i s c h a rg e, P D)侦测功能于一单机，提供 交 流 电 压 输 出 0 . 1 k V ~ 1 0 k V ， 漏 电 流 测 量 范围0 . 0 1 μ A ~3 0 0 μ A，局部放电侦测范围 1pC~2000pC，针对高压半导体组件与高绝缘材 料测试应用所设计与开发。局部放电测试器产品设计符 合IEC60270-1法规，针对高电压试验技术中对局部放电测试要求，采用窄频滤波器 (Narrow[1]band) 量测技术进行PD放电量测量，并将量测结果以直观数值 (pC) 显示在屏幕上让用户清楚明了待测物测试判定结果。 Chroma的高压接触检查功能 (High Voltage Contact Check : HVCC) 系利用Kelvin测试方法针对高绝缘能力之组件，于高压输出时同步进行接触检查，增加测试有效性与生产效率。在IEC60747-5-5法规中提及，于生产过程中 (Routine test) 必须100%执行局部放电 (Partial discharge) 检测，在zui大绝缘电压条件下不能超过5pC放电量，确保产品在正常工作环境中不会发生局部放电现象。 局部放电测试器主要针对高压光耦合器、高压继电器及高压开关等高绝缘耐受力之组件，提供高压的耐压测试与局部放电侦测，确保产品质量与提升产品可靠度。

主要特点

■ 单机内建交流耐压测试与局部放电侦测功能

■ 可程序交流耐压输出 0.1kVac~10kVac

■ 高精度及高分辨率电流表 0.01μA~300μA

■ 局部放电(PD)侦测范围 1pC~2000pC

■ 高压接触检查功能( HVCC)

■ 符合IEC60747-5-5、VDE0884、 IEC 60270法规测试要求

■ 内建IEC60747-5-5测试方法

■ 量测与显示单元分离式设计

■ 三段电压测试功能

■ PD测量结果数值显示 (pC)

■ PD不良发生次数判定设定 (1~10)

■ 多语系繁中/ 简中/英文操作接口

■ USB画面撷取功能

■ 图形化辅助编辑功能

■ 标准LAN、USB、RS232远程控制接口

局部放电器校正功能

局部放电测试设备用于测量与判定微小放电量，其讯号非常微小且快速，因此局部放电量测设备于出厂前必须透过精密的校正才能确保放电发生时，其高频讯号能够被精准的测量，在高压试验技术法规标准IEC60270-1章节中对于局部放电的校正标准与方法在法规条文中有明确指示跟说 明，Chroma 19501-K 局部放电器亦依据法规要求进行设计与开发。 校正器上所使用的标准电容Co通常为一个低压电容器，因此执行PD校正时局部放电测试器设备是在不带电的状态下进行校正，也就是只针对PD 量测回路执行校正，在法规内文中也有说明，为了使校正有效，用于校正器上的标准电容Co必须小于0.1 Ca，则校正器上的脉冲等效放电量 qo =Vo Co 单次放电脉冲。如图说明 :

高精准量测

Chroma 19501-K拥有高精度的局部放电测量，具有两个量测档位，分别为200pC与2000pC 档位，测量范围从1pC~2000pC，在200pC文件位下分辨率为0.1pC，高精度的测量与直观性的将量测结果显示在画面上，有助于对高绝缘物体进行微小放电量判定与分析。