电镀层厚度膜厚仪，金属镀层厚度测量仪是由江苏天瑞仪器股份有限公司专业研发并生产、销售电镀层厚度膜厚仪，金属镀层厚度测量仪。

电镀层厚度膜厚仪，金属镀层厚度测量仪是专业测试金属电镀膜厚的仪器，主要针对镀金，镀银，镀锌，镀锡，镀铜，镀镍，镀钯，镀铑等镀层厚度，天瑞仪器thick800a采用上照式，满足不同规格样品的测试，同时移动样品平台可以满足不同点样品测试，实现了智能化操作，作为电镀层厚度膜厚仪，金属镀层厚度测量仪生产厂家，产品质量、售后服务、价格占有一定优势。

电镀层厚度膜厚仪，金属镀层厚度测量仪Thick800A是天瑞仪器股份有限公司的集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款上照式膜厚测试仪。仪器外观简洁大方，通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析。

性能优势

高端配置——采用高分辨率SDD探测器;分辨率高达140eV

上照式设计——实现微小不规则表面样品如弧形，拱形，凹槽，螺纹等异形的快、准、稳高效检测高自动化的X轴Y轴Z轴的联动装置实现对样品的精准对焦快速检测

采用高度自动定位激光，可快速精准定位测试高度，以满足不同尺寸的镀层测试

多种准直孔可供选择——准直孔：0.05*0.3mm；Ф0.1mm；Ф0.2mm；Ф0.3mm；Ф0.5mm定位精准——样品可快速精准定位

操作简易——全自动智能集成设计，让检测轻松完成

仪器配置高

电镀层厚度膜厚仪，金属镀层厚度测量仪Thick 800A采用的是业内zui高端的SDD半导体电制冷探

测器，分辨率可达140eV,可以很好的区分相邻元素谱峰。

以Au/Ni/Cu镀层为例，正比计数盒仪器谱图如图一，从谱图可以看出铜镍两元素的谱峰重叠严重，金的峰形与样品本底重叠；不利于元素准确分析。

图二是半导体SDD仪器测试Au/Ni/Cu的光谱图，从谱图可以看出铜镍金这三个元素的谱峰得到很明显的区分，有利于元素精准分析。

聚焦光路设计

电镀层厚度膜厚仪，金属镀层厚度测量仪Thick 800A采用独特的光路交换装置，让X射线与摄像光处于同一垂直线，达到激光点与测试点一体，且X光高度聚焦；配合FP软件达到对焦变焦功能， 实现微小不规则样品的精准测试； 高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍，有效的减少弧度倾斜放样带来的误差。

特制滤波片实现低背景测量

通过特制滤波片可以有效降低X荧光的吸收与增强作用，减小背景散射，提高对超薄金属元素的检出限（最di可以达到0.005um），实现超薄金属镀层厚度分析。

高精度定位技术

高精度移动平台可精que定位测试点，平台电机重复定位精度小于0.005mm；移动平台可通过测试软件可视化操作：（ 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。）

FP算法

电镀层厚度膜厚仪，金属镀层厚度测量仪Thick 800A分析核心技术  FP算法

元素厚度精准检测

微区分析、薄膜分析、高级次谱线分析

更加和人性化的测试软件

①主界面增加曲线快速切换功能；

②鼠标移动快捷键更改不需要ctrl，鼠标点哪，样品平台就会移动到哪里，更加方便客户测试；

③镀层厚度自动判定，客户可以根据需要自定义判定标准；

④工作曲线界面加入备注名称可编辑，并可以显示在主界面曲线界面，对英文元素做备注说明，方便客户区分，界面对客户更加友好

⑤自动生成测试报告，测试历史数据察看、检索等

⑥行业解决方案，如精密部件钕铁硼镀镍镀铜再镀镍，电泳漆测厚度，铝塑膜测试镀铝的厚度等。

技术参数