HIOKI/日置IM3533 LCR测试仪现货供应
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图文详情
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产品属性
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日置IM3533 应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域
● 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。
● 在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下，不间断测试，速度是我司以往产品的10倍。
● 内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。
● (测量速度是以往产品3522-50的10倍，大大提高了反复性和稳定性)
● 专用模式，用于测量变压器线圈比率，互感系数和温度补偿DCR。
● 频率扫描测试(仅IM3533-01)
● 除标准0m/1m以外的2m/4m电缆设置。
● 内置比较器和BIN功能。
● 2ms的快速测试时间
LCR测试仪IM3533测量方法：连续测量不同条件
电容的测量条件下，希望120Hz时进行C-D测量。希望100kHz时进行ESR测量。这时，可以用1台仪器高速的连续测量不同条件。LCR测试仪IM3533测量方法：线圈匝数比的测量，在变压器、线圈测量中，可以运算并显示初级和次级的L测量、线圈匝数比。彻底消除之前需要手动计算的麻烦。LCR测试仪IM3533测量方法：互感的测量在变压器的测量中同相串联后进行L测量，接着反相串联后进行L测量的同时可以运算并显示互感。彻底消除之前需要手动计算的麻烦。LCR测试仪IM3533测量方法：频率扫描测量IM3533-01能够根据指定的频率范围和频率列表，改变801点的频率后自动进行测量。测量结果能够通过U盘或者接口保存至PC中，使用附件中的LCR应用软件还能显示频率特性列表和图表。
HIOKI/日置IM3533 LCR测试仪技术参数
| IM3533 | IM3533-01 | |
|---|---|---|
| 测量模式 | LCR，变压器测试(N,M,△L)， 连续测试(LCR模式) | LCR，变压器测试(N,M,△L)， 分析仪(扫描测试)，连续测试(LCR/分析模式) |
| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, DCR (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, N, M, ΔL, T | |
| 测量量程 | 100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义) | |
| 可显示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位] ～9.999999G [单位]) 只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000° to 999.999°), D: ± (0.000000 to 9.999999) Q: ± (0.00 to 99999.99), Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%) | |
| 基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° | |
| 测量频率 | 1mHz ～200kHz (1mHz ～10Hz步进) | |
| 测量信号电平 | [输出阻抗] V模式，CV模式：5mV～5Vrms,1mVrms CC模式：10μA～50mArms,10μArms [低阻抗高精度模式] V模式，CV模式：5mV～2.5Vrms,1mVrms CC模式：10μA～100mArms,10μArms | |
| 输出阻抗 | 正常模式：100Ω,低阻抗高精度模式：25Ω | |
| 显示 | 5.7英寸触摸屏，彩色TFT，显示可设置ON/OFF | |
| 测量时间 | 2ms(1kHz,FAST,显示OFF，代表值) | |
| 功能 | DC偏压测量、直流电阻温度补偿 （标准温度换算显示）,比较器、BIN测量（分类功能）,面板读取/保存、存储功能 | |
| 接口 | EXT I/O(处理器)，USB通信(高速)，USB存储 选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一 | |
| 电源 | 100～240V AC，50/60Hz，50VA | |
| 尺寸及重量 | 330mm W×119mm H×168mm D, 3.1kg | |
| 附件 | 电源线×1，使用说明书×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1 |