XRF镀层测厚仪Thick800A是一款功能强大的电镀层厚度分析仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手，检测电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,Thick800AXRF镀层测量仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款测量仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。

        *超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面

*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
*有助于识别镀层成分的创新型功能

*机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室







*按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的结果

*使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

• *用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心




• *Thick系列分析仪测试数据可以和上传网络，检测结果易于查看和分享




• *有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用

Thick800A性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

Thick800A技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

Thick800A工作原理

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以 荧光或光的形态被释放出来。x射线镀层测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

天瑞仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中，针对ROHS、膜厚、全元素分析等等需求应用，

具有以下特点：
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量准确度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上优质的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试准确度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析准确度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种高质量的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。