XRF手机接插件镀层测厚仪是由江苏天瑞仪器股份有限公司研发并生产XRF手机接插件镀层测厚仪。

XRF手机接插件镀层测厚仪应用优势：

针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；

软件可分析达到5层25种元素镀层；

通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；

配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的准确分析；

内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；

高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。

XRF手机接插件镀层测厚仪使用注意事项

开启仪器电源开关时，动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。

向样品腔放置样品时，要注意样品的洁净，不可使尘粒掉入其中，否则会污染X光管和探测器窗口，造成测量失准和探头损坏；同时，还要注意轻拿轻放（使用镊子等器具取放样品），以免测量窗口的薄膜被破坏。

样品盖需要经常用酒精棉球清洁。

每次开机后，仪器都必须先预热30分钟，然后进行初始化，方可进行正常的检测工作。

测量不同类型的样品时，需从程序栏中选择其对应的选项，才能保证较佳的测量效果。

为使仪器能长期保持工作正常，需定期对仪器的各项参数进行测试，并进行调整。

XRF手机接插件镀层测厚仪性能特点：

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高移动平台可准确定位测试点，重复定位小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

 天瑞仪器将以“行业技术”的姿态，不断探究世界分析领域的。为客户提供更加先进的产品和更加满意的服务，同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供更为完善的行业整体解决方案，从而推动中国经济快速化。