Chroma 3270微型 IC 测试分类机主要特色：

• 适合 CMOS 影像感应组件量产需求

• 可靠的高速 Pick&Place 分类机

• 3x3 mm 微型 IC 处理能力

• 浮动头可有效率平衡测试压力

• 自动测试压力学习

• IC 残留检测功能

Chroma 3270 是一款创新的微型 IC 测试分类机，特别适合 CMOS 影像感应组件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量产所需，Chroma 3270 可配合多种不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封装。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技术，可从JEDEC夹盘来拾取IC，移动到测试位置，然后将测试后产品置于适当之 Tray 盘。

Chroma 3270 能同时处理32个待测物进行平行测试，并提供50?C~125?C高温测试选择。不但能提高产量，提升生产良率，同时大幅降低测试成本。