VLSI 测试系统 Model 3380P主要特色：

• 50/100 MHz测试频率

• 50/100 Mbps数据速率

• 512数字通道管脚 (可至 576数字通道管脚)

• 并行测试可达 512 sites 同测数

• 32/64/128M Pattern 记忆体

• 多样弹性 VI 电源

• 弹性化硬体结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)

• Real parallel Trim/Match 功能

• 时序频率测试单位 (TFMU)

• AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可选配

• SCAN向量存储深度( 2G bits/chain) *可选配

• ALPG 测试选配供记忆体 IC用

• STDF 工具支援

• 测试程式/pattern 转换器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)

• 人性化 Window 7 操作系统

• CRAFT C/C++ 程式语言

• 软件介面与 3380P/3360P 相同

• Direct mount 治具可相容于3360P probe-card

• Cable mount 治具可相容于3360D与3360P

VLSI 测试系统 Model 3380P涵盖广泛的应用范围:

Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal); Power, LED driver, Class D; SCAN, ALPG, Match...etc

为因应未来IC晶片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC晶片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。

3380D/3380P/3380机型为因应高同测(HighParallel Test)功能，除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外，更具备Any Pins to Any Site高同测功能(512 I/O pin可并行测512 个测试晶片)，以因应未来IC晶片更高的测试需求。3380P同时具备All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用介面、及成本效益上，长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。