VLSI测试系统Chroma 3380主要特色：
50/100 MHz 测试频率
50/100 Mbps 数据速率
1024 数字通道管脚 (1280 数字通道管脚)
高达1024 sites 并行测试
32/64/128 pattern 记忆体
16M capture memory per pin
多样化 VI 电源
弹性化硬体架构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel trim/match 功能
时序频率测试单位 (TFMU)
高速时序测试单位 (HSTMU)
支援STDF工具
测试program/pattern转换器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312, V7, TRI-6036等)
AD/DA功能板卡 *可选配
SCAN向量存储深度(2G bitsain) *可选配
ALPG 测试功能可供记忆体IC用 *可选配
CRAFT C/C++ 程式语言
软件介面与3380P/3360P相同
人性化的 Windows 7操作系统 

VLSI测试系统Chroma 3380应用范围：

微控制器单元 (MCU)

ADC/DAC混合信号IC

逻辑IC

ADDA

ALPG

Smart card

Mini & Macro LED驱动IC

CMOS影像感测器 (CIS)

电源IC (Class D IC)

消费性IC

LED驱动IC

VLSI测试系统Chroma 3380

为因应未来IC晶片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台，包含3380D、3380P、3380机型，根据不同的脚位数或并行测试(Parallel Test)，提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。

此系列机型之一的VLSI测试系统3380，具有1280数字通道管脚、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色；可符合高同测的市场驱势，具备1024数字通道管脚可并行测试1024个晶片的能力。除了独特的4-wire高密度IC电源(VI source)外，弹性化可调整的架构还可提供Mini & Macro LED驱动IC、CMOS影像感测器(CIS)、及3D影像测试等解决方案；以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。

3380 VLSI测试系统可无缝接轨3380D(256pins)与3380P(512pins)，以因应更高的产能需求。 3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用介面、及成本效益上，长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。