SoC 测试系统 Chroma 3650基本介绍：

CRISP (软体测试环境) 
架构在Windows XP作业系统上的Chroma 3650的软体测试环境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一个结合工程开发与量产需求的软体平台。主要包含四个部份 : 执行控制模 组、资料分析模组、程式除错模组以及测试机台管理模组。透过亲切的图形人机介面的设 计，CRISP提供多样化的开发与除错工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor与Plan Debugger 等软体模组，可满足研发/测试工程师开发程式时的需 求 ; 此外，Histogram tool可用于重复测试参数，包含时序、电压、电流等，以评估其测试流程之稳定度。

在量产工具的部份，透过特别为操作员所设计 的OCI (Operator Control Interface)量产平台，生 产人员可轻易地控制每个测试阶段。它提供产品 导向的图形介面操作，用来控制 Chroma 3650、 晶圆针测机和送料机等装置沟通。程式设计者 可先行在Production Setup Tool视窗之下设定OCI 的各项参数，以符合生产环境的需求。而操作员所需进行的工作，只是选择程式设计者已规划好的流 程，即可开始量产，大幅降低生产线上的学习的时 间。

SoC 测试系统 Chroma 3650主要特点:

• 512个 I/O 通道(I/O Channel)

• 16M (32M Max.) Pattern 记忆体(Pattern Memory)

• Per-Pin 弹性资源架构

• 32 DUTS 平行测试功能

• ADC/DAC 测试功能

• 硬体规则模式产生器(Algorithmic Pattern Generator)

• BIST/DFT扫描链(Scan Chain)测试模组选项

• 好学易用的 Windows XP 作业环境

• 每片 VI45 类比单板可支援8~32通道

• 每片 PVI100 类比单板可支援2~8通道

• 弹性化的 MS C/C++ 程式语言

• 即时pattern编辑器，含Fail pin/address显示

• 测试程式/测试pattern转换软体(J750, SC312)

• 多样化测试分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等

• 最经济实惠的VLSI和消费性混合信号晶片产品的测试方案